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质量分析方法以及质量分析装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201210024742.9
申请日
:
2012-02-06
公开(公告)号
:
CN102655074A
公开(公告)日
:
2012-09-05
发明(设计)人
:
杉山益之
桥本雄一郎
长谷川英树
桥场周平
熊野峻
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
H01J4900
IPC分类号
:
H01J4926
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
丁文蕴;郑永梅
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-10-31
实质审查的生效
实质审查的生效 申请日:20120206 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101340110701 IPC(主分类):H01J 49/00 专利申请号:2012100247429
2015-09-30
授权
授权
2012-09-05
公开
公开
共 50 条
[1]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
田川雄介
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
田川雄介
;
石川勇树
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
石川勇树
.
日本专利
:CN113711025B
,2024-05-24
[2]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
田川雄介
论文数:
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0
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0
田川雄介
;
石川勇树
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0
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石川勇树
.
中国专利
:CN113711025A
,2021-11-26
[3]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
影山辽
论文数:
0
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
影山辽
;
内田刚史
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
内田刚史
;
西口克
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
西口克
;
下村学
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
下村学
.
日本专利
:CN113412532B
,2024-08-23
[4]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
西元琢真
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
西元琢真
;
王子豪
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
王子豪
;
古矢勇夫
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
古矢勇夫
;
任田浩
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
任田浩
;
桥本雄一郎
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
桥本雄一郎
;
杉山益之
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
杉山益之
.
日本专利
:CN115023787B
,2025-03-28
[5]
质量分析方法以及质量分析装置
[P].
三浦宏之
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三浦宏之
;
出水秀明
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出水秀明
.
中国专利
:CN114166922A
,2022-03-11
[6]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
西元琢真
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西元琢真
;
王子豪
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王子豪
;
古矢勇夫
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古矢勇夫
;
任田浩
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任田浩
;
桥本雄一郎
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桥本雄一郎
;
杉山益之
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杉山益之
.
中国专利
:CN115023787A
,2022-09-06
[7]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
师子鹿司
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师子鹿司
;
诸熊秀俊
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诸熊秀俊
;
山田益义
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山田益义
;
井上博之
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井上博之
.
中国专利
:CN104246489A
,2014-12-24
[8]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
桥本雄一郎
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桥本雄一郎
;
长谷川英树
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长谷川英树
;
马场崇
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马场崇
;
和气泉
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和气泉
.
中国专利
:CN101814415B
,2010-08-25
[9]
质量分析方法以及质量分析装置
[P].
竹下建悟
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
竹下建悟
.
日本专利
:CN115843386B
,2025-05-13
[10]
质量分析装置以及质量分析方法
[P].
影山辽
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影山辽
;
内田刚史
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内田刚史
;
西口克
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西口克
;
下村学
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下村学
.
中国专利
:CN113412532A
,2021-09-17
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