质量分析装置以及质量分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201380021284.6
申请日
2013-04-22
公开(公告)号
CN104246489A
公开(公告)日
2014-12-24
发明(设计)人
师子鹿司 诸熊秀俊 山田益义 井上博之
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01N2762
IPC分类号
H01J4926
代理机构
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
许静;李家浩
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
影山辽 ;
内田刚史 ;
西口克 ;
下村学 .
日本专利 :CN113412532B ,2024-08-23
[2]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
田川雄介 ;
石川勇树 .
日本专利 :CN113711025B ,2024-05-24
[3]
质量分析方法以及质量分析装置 [P]. 
杉山益之 ;
桥本雄一郎 ;
长谷川英树 ;
桥场周平 ;
熊野峻 .
中国专利 :CN102655074A ,2012-09-05
[4]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
西元琢真 ;
王子豪 ;
古矢勇夫 ;
任田浩 ;
桥本雄一郎 ;
杉山益之 .
日本专利 :CN115023787B ,2025-03-28
[5]
质量分析方法以及质量分析装置 [P]. 
三浦宏之 ;
出水秀明 .
中国专利 :CN114166922A ,2022-03-11
[6]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
西元琢真 ;
王子豪 ;
古矢勇夫 ;
任田浩 ;
桥本雄一郎 ;
杉山益之 .
中国专利 :CN115023787A ,2022-09-06
[7]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
桥本雄一郎 ;
长谷川英树 ;
马场崇 ;
和气泉 .
中国专利 :CN101814415B ,2010-08-25
[8]
质量分析方法以及质量分析装置 [P]. 
竹下建悟 .
日本专利 :CN115843386B ,2025-05-13
[9]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
影山辽 ;
内田刚史 ;
西口克 ;
下村学 .
中国专利 :CN113412532A ,2021-09-17
[10]
质量分析装置以及质量分析方法 [P]. 
田川雄介 ;
石川勇树 .
中国专利 :CN113711025A ,2021-11-26