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一种可用于大电流器件测试的测试座
被引:0
申请号
:
CN202222402066.6
申请日
:
2022-09-09
公开(公告)号
:
CN218180929U
公开(公告)日
:
2022-12-30
发明(设计)人
:
朱永汉
朱雨帆
申请人
:
申请人地址
:
311107 浙江省杭州市余杭区仁和街道永泰路2号13-2
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3500
代理机构
:
上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312
代理人
:
杨益
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-30
授权
授权
共 50 条
[1]
大电流锁紧式测试座
[P].
朱雨帆
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱雨帆
;
朱永汉
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱永汉
.
中国专利
:CN217981572U
,2022-12-06
[2]
一种功率半导体器件大电流测试座装置
[P].
贾士龙
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
忱芯电子(苏州)有限公司
忱芯电子(苏州)有限公司
贾士龙
;
毛赛君
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
忱芯电子(苏州)有限公司
忱芯电子(苏州)有限公司
毛赛君
.
中国专利
:CN117554772A
,2024-02-13
[3]
大电流手动测试座
[P].
刘通
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏兴宙微电子有限公司
江苏兴宙微电子有限公司
刘通
.
中国专利
:CN221826948U
,2024-10-11
[4]
一种用于大电流芯片的开尔文测试座
[P].
金鑫
论文数:
0
引用数:
0
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0
金鑫
;
张向林
论文数:
0
引用数:
0
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0
张向林
.
中国专利
:CN218036996U
,2022-12-13
[5]
一种用于大电流测试的治具
[P].
谢后勇
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢后勇
.
中国专利
:CN216434160U
,2022-05-03
[6]
一种用于大电流测试的探针测试设备
[P].
王文兵
论文数:
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王文兵
;
刘才君
论文数:
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刘才君
;
刘泽鑫
论文数:
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0
刘泽鑫
.
中国专利
:CN114994495A
,2022-09-02
[7]
一种用于大电流测试的探针测试设备
[P].
王文兵
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
深圳市容微精密电子有限公司
深圳市容微精密电子有限公司
王文兵
;
刘才君
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机构:
深圳市容微精密电子有限公司
深圳市容微精密电子有限公司
刘才君
;
刘泽鑫
论文数:
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0
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0
机构:
深圳市容微精密电子有限公司
深圳市容微精密电子有限公司
刘泽鑫
.
中国专利
:CN114994495B
,2025-01-28
[8]
一种DFN高压大电流测试座
[P].
郑勇
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
苏州华益微电子有限公司
苏州华益微电子有限公司
郑勇
;
邓保建
论文数:
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0
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机构:
苏州华益微电子有限公司
苏州华益微电子有限公司
邓保建
.
中国专利
:CN220438414U
,2024-02-02
[9]
一种大电流测试模组
[P].
胡建
论文数:
0
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机构:
深钛智能科技(苏州)有限公司
深钛智能科技(苏州)有限公司
胡建
;
王丽国
论文数:
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机构:
深钛智能科技(苏州)有限公司
深钛智能科技(苏州)有限公司
王丽国
.
中国专利
:CN220752187U
,2024-04-09
[10]
一种大电流测试平台
[P].
李松
论文数:
0
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机构:
扬州爱迪秀自动化科技有限公司
扬州爱迪秀自动化科技有限公司
李松
;
莫健
论文数:
0
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0
机构:
扬州爱迪秀自动化科技有限公司
扬州爱迪秀自动化科技有限公司
莫健
.
中国专利
:CN222882838U
,2025-05-16
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