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一种用于大电流测试的探针测试设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110224614.8
申请日
:
2021-03-01
公开(公告)号
:
CN114994495B
公开(公告)日
:
2025-01-28
发明(设计)人
:
王文兵
刘才君
刘泽鑫
申请人
:
深圳市容微精密电子有限公司
申请人地址
:
518100 广东省深圳市龙华区观湖街道樟坑径社区上围工业区2000069栋金倡达F栋101
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R1/067
代理机构
:
重庆壹手知专利代理事务所(普通合伙) 50267
代理人
:
刘军
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-01-28
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于大电流测试的探针测试设备
[P].
王文兵
论文数:
0
引用数:
0
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0
王文兵
;
刘才君
论文数:
0
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刘才君
;
刘泽鑫
论文数:
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0
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0
刘泽鑫
.
中国专利
:CN114994495A
,2022-09-02
[2]
一种适用于大电流测试的探针测试底座
[P].
刘泽鑫
论文数:
0
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0
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0
刘泽鑫
.
中国专利
:CN111537869A
,2020-08-14
[3]
大电流测试探针
[P].
涂炳超
论文数:
0
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0
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0
机构:
东莞市台易电子科技有限公司
东莞市台易电子科技有限公司
涂炳超
.
中国专利
:CN223362236U
,2025-09-19
[4]
一种大电流测试探针
[P].
井高飞
论文数:
0
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井高飞
;
付盼红
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付盼红
;
张明海
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张明海
;
申啸
论文数:
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0
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0
申啸
.
中国专利
:CN215116425U
,2021-12-10
[5]
大电流测试探针
[P].
李莉
论文数:
0
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0
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0
李莉
.
中国专利
:CN109683000A
,2019-04-26
[6]
大电流测试用弹片式探针
[P].
周威
论文数:
0
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0
h-index:
0
机构:
深圳市欧米加智能科技有限公司
深圳市欧米加智能科技有限公司
周威
.
中国专利
:CN223377369U
,2025-09-23
[7]
一种大电流测试基座
[P].
吴斯杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
德欧泰克半导体(上海)有限公司
德欧泰克半导体(上海)有限公司
吴斯杰
.
中国专利
:CN222838124U
,2025-05-06
[8]
用于测试高压大电流产品的探针
[P].
谢晋春
论文数:
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0
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谢晋春
;
辛吉升
论文数:
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0
辛吉升
.
中国专利
:CN201852860U
,2011-06-01
[9]
一种可用于大电流器件测试的测试座
[P].
朱永汉
论文数:
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0
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朱永汉
;
朱雨帆
论文数:
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朱雨帆
.
中国专利
:CN218180929U
,2022-12-30
[10]
一种适应大电流的测试探针
[P].
张小英
论文数:
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张小英
;
申啸
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申啸
;
李红叶
论文数:
0
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李红叶
.
中国专利
:CN112147381A
,2020-12-29
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