用于具有表面深谷信号的表面粗糙度测量的高斯滤波方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610907699.9
申请日
2016-10-18
公开(公告)号
CN106441207A
公开(公告)日
2017-02-22
发明(设计)人
谢勇刚 殷宪宇 许进
申请人
申请人地址
150080 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
IPC主分类号
G01B2130
IPC分类号
代理机构
哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209
代理人
陈润明
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
表面粗糙度测量 [P]. 
瓦达克·马萨姆·穆鲁克山 ;
帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦 ;
安思文·哈瑞达斯 ;
普尔基特·卡普尔 ;
比拉尔·M·纳塞尔 ;
凯尔文·H·K·陈 .
中国专利 :CN111412868A ,2020-07-14
[2]
表面粗糙度测量辅助支架以及表面粗糙度测量系统 [P]. 
韩朝 ;
邓郴 ;
孙超 ;
王艺娜 ;
张正 ;
申开颜 ;
苏华运 ;
尹士平 ;
唐莉 ;
高静 .
中国专利 :CN223076664U ,2025-07-08
[3]
表面粗糙度的测量 [P]. 
J·帕尔马尔 ;
C·伦纳茨 ;
S·纳普 ;
P·费耶斯 .
德国专利 :CN121219550A ,2025-12-26
[4]
表面粗糙度测量用探头 [P]. 
松宫贞行 ;
平野宏太郎 ;
大谷茂 ;
岩元贤司 .
中国专利 :CN301947225S ,2012-06-06
[5]
混凝土表面粗糙度测量尺 [P]. 
李强 ;
胡颖 ;
刘世美 .
中国专利 :CN201233216Y ,2009-05-06
[6]
表面粗糙度测量用调节平台 [P]. 
王飞 ;
程祥 ;
郑光明 ;
李阳 ;
杨先海 ;
李学伟 .
中国专利 :CN209961203U ,2020-01-17
[7]
表面粗糙度测量仪 [P]. 
水野哲 .
中国专利 :CN1005790B ,1987-01-07
[8]
表面粗糙度测量仪 [P]. 
石岩 ;
雷彬 ;
石敬谊 ;
雷亮 .
中国专利 :CN2689168Y ,2005-03-30
[9]
表面粗糙度测量装置 [P]. 
谢广平 ;
贾明 ;
翟梓融 ;
保罗·查劳瑞 ;
凯文·G·哈丁 ;
宋桂菊 .
中国专利 :CN105378427A ,2016-03-02
[10]
表面粗糙度测量装置 [P]. 
谢广平 ;
贾明 ;
翟梓融 ;
保罗.查劳瑞 ;
凯文.G.哈丁 ;
宋桂菊 .
中国专利 :CN104121872B ,2014-10-29