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表面粗糙度测量用探头
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201130447533.1
申请日
:
2011-11-30
公开(公告)号
:
CN301947225S
公开(公告)日
:
2012-06-06
发明(设计)人
:
松宫贞行
平野宏太郎
大谷茂
岩元贤司
申请人
:
申请人地址
:
日本神奈川县
IPC主分类号
:
1004
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
马涛;冯晓燕
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-06-06
授权
授权
2021-12-17
专利权的终止
专利权有效期届满 主分类号:10-04 申请日:20111130 授权公告日:20120606
共 50 条
[1]
一种表面粗糙度测量用探头
[P].
孙明坤
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孙明坤
.
中国专利
:CN218034992U
,2022-12-13
[2]
表面粗糙度测量
[P].
瓦达克·马萨姆·穆鲁克山
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瓦达克·马萨姆·穆鲁克山
;
帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦
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帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦
;
安思文·哈瑞达斯
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安思文·哈瑞达斯
;
普尔基特·卡普尔
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普尔基特·卡普尔
;
比拉尔·M·纳塞尔
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比拉尔·M·纳塞尔
;
凯尔文·H·K·陈
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凯尔文·H·K·陈
.
中国专利
:CN111412868A
,2020-07-14
[3]
表面粗糙度测量辅助支架以及表面粗糙度测量系统
[P].
韩朝
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
韩朝
;
邓郴
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
邓郴
;
孙超
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
孙超
;
王艺娜
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
王艺娜
;
张正
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
张正
;
申开颜
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
申开颜
;
苏华运
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
苏华运
;
尹士平
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
尹士平
;
唐莉
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
唐莉
;
高静
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
高静
.
中国专利
:CN223076664U
,2025-07-08
[4]
表面粗糙度测量用调节平台
[P].
王飞
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王飞
;
程祥
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程祥
;
郑光明
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郑光明
;
李阳
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李阳
;
杨先海
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杨先海
;
李学伟
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李学伟
.
中国专利
:CN209961203U
,2020-01-17
[5]
混凝土表面粗糙度测量尺
[P].
李强
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李强
;
胡颖
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胡颖
;
刘世美
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刘世美
.
中国专利
:CN201233216Y
,2009-05-06
[6]
表面粗糙度的测量
[P].
J·帕尔马尔
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特里纳米克斯股份有限公司
特里纳米克斯股份有限公司
J·帕尔马尔
;
C·伦纳茨
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特里纳米克斯股份有限公司
特里纳米克斯股份有限公司
C·伦纳茨
;
S·纳普
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特里纳米克斯股份有限公司
特里纳米克斯股份有限公司
S·纳普
;
P·费耶斯
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机构:
特里纳米克斯股份有限公司
特里纳米克斯股份有限公司
P·费耶斯
.
德国专利
:CN121219550A
,2025-12-26
[7]
一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置
[P].
温树彬
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温树彬
;
郑锦标
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郑锦标
;
张振
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张振
;
陈建立
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陈建立
;
孙东辰
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孙东辰
;
陈冬梅
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陈冬梅
.
中国专利
:CN209485249U
,2019-10-11
[8]
一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置
[P].
温树彬
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温树彬
;
郑锦标
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郑锦标
;
张振
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张振
;
陈建立
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陈建立
;
孙东辰
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孙东辰
;
陈冬梅
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陈冬梅
.
中国专利
:CN109668501A
,2019-04-23
[9]
表面粗糙度测量机
[P].
有田贞治
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有田贞治
;
梶原俊彦
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梶原俊彦
;
小竹纯
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小竹纯
;
清水葵
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清水葵
.
中国专利
:CN307134160S
,2022-03-01
[10]
表面粗糙度测量仪
[P].
水野哲
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水野哲
.
中国专利
:CN1005790B
,1987-01-07
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