基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110422865.3

申请日：

2011-12-15

公开(公告)号：

CN102520323A

公开(公告)日：

2012-06-27

发明(设计)人：

邵瑰玮付晶蔡焕青王文龙

申请人：

申请人地址：

210003 江苏省南京市南瑞路8号

IPC主分类号：

G01R3112

IPC分类号：

G01N2125

代理机构：

武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220

代理人：

朱必武;周瑾

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-09-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101320545123 IPC(主分类):G01R 31/12 专利申请号:2011104228653 申请日:20111215
2014-05-21	授权	授权
2012-06-27	公开	公开

共 50 条

[1]

基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法 [P].

付晶 ;

邵瑰玮 ;

陈怡 ;

蔡焕青 .

中国专利 :CN102520286A ,2012-06-27

[2]

复合绝缘子高光谱检测方法 [P].

邵瑰玮 ;

宋智兰 ;

付晶 ;

文志科 ;

王文龙 .

中国专利 :CN102565577A ,2012-07-11

[3]

基于高光谱的复合绝缘子硅橡胶老化检测装置及其检测方法 [P].

陈伟 ;

陈林聪 ;

李创 ;

符小桃 ;

李欣然 ;

张薇 ;

陈晓琳 .

中国专利 :CN109060682B ,2018-12-21

[4]

基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法 [P].

付晶 ;

邵瑰玮 ;

闵绚 ;

胡霁 .

中国专利 :CN102519846A ,2012-06-27

[5]

一种基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法 [P].

郭裕钧 ;

张玉翠 ;

张血琴 ;

刘凯 ;

吴广宁 ;

杨雁 ;

李春茂 .

中国专利 :CN111239073B ,2020-06-05

[6]

一种复合绝缘子运行状态评估方法 [P].

汪佛池 ;

律方成 ;

刘云鹏 ;

刘杰 .

中国专利 :CN102879689B ,2013-01-16

[7]

一种复合绝缘子运行状态的判别方法 [P].

张振泉 ;

付豪 ;

王立福 ;

李耀中 ;

庄文兵 ;

郑子梁 ;

贾志东 ;

陈灿 .

中国专利 :CN104865144A ,2015-08-26

[8]

基于红外光谱的复合绝缘子老化检测方法及系统 [P].

刘冲 ;

彭兆裕 ;

刘松 ;

黄庆聪 ;

马御棠 ;

罗康顺 .

中国专利 :CN110376155A ,2019-10-25

[9]

基于LIBS的复合绝缘子老化定量检测方法 [P].

代克杰 ;

李阔湖 ;

李鹏飞 ;

王艳辉 ;

陈辉 ;

刘逸凡 ;

张桐 .

中国专利 :CN109030460A ,2018-12-18

[10]

基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法及系统 [P].

张龙 ;

高嵩 ;

朱孟周 ;

毕晓甜 ;

梁伟 ;

张照辉 .

中国专利 :CN108072667A ,2018-05-25

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