一种基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010051968.2

申请日：

2020-01-17

公开(公告)号：

CN111239073B

公开(公告)日：

2020-06-05

发明(设计)人：

郭裕钧张玉翠张血琴刘凯吴广宁杨雁李春茂

申请人：

申请人地址：

610031 四川省成都市二环路北一段

IPC主分类号：

G01N213563

IPC分类号：

G01N232251 G01N2117 G01N1302 G06T700

代理机构：

成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229

代理人：

陈选中

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-29	授权	授权
2020-06-05	公开	公开
2020-06-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/3563 申请日:20200117

共 50 条

[1]

一种复合绝缘子老化程度的综合检测方法 [P].

马御棠 ;

张广全 ;

张血琴 ;

马仪 ;

周仿荣 ;

彭兆裕 ;

颜冰 ;

刘冲 ;

潘浩 ;

黄然 ;

刘凯 .

中国专利 :CN109781614A ,2019-05-21

[2]

复合绝缘子高光谱检测方法 [P].

邵瑰玮 ;

宋智兰 ;

付晶 ;

文志科 ;

王文龙 .

中国专利 :CN102565577A ,2012-07-11

[3]

一种复合绝缘子老化程度的快速检测方法 [P].

梁英 ;

靳哲 ;

张君成 .

中国专利 :CN106199246B ,2016-12-07

[4]

硅橡胶复合绝缘子老化程度的检测方法 [P].

许志海 ;

徐晓刚 ;

彭向阳 ;

麦晓明 ;

毛先胤 ;

方鹏飞 ;

王建国 ;

王聪 ;

刘杨 ;

王康 .

中国专利 :CN103344527A ,2013-10-09

[5]

基于高光谱的复合绝缘子硅橡胶老化检测装置及其检测方法 [P].

陈伟 ;

陈林聪 ;

李创 ;

符小桃 ;

李欣然 ;

张薇 ;

陈晓琳 .

中国专利 :CN109060682B ,2018-12-21

[6]

基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法 [P].

吴广宁 ;

邱彦 ;

郭裕钧 ;

张血琴 ;

刘凯 ;

高国强 ;

杨泽锋 ;

魏文赋 .

中国专利 :CN110376214A ,2019-10-25

[7]

一种硅橡胶复合绝缘子老化程度检测方法 [P].

梁英 ;

刘云鹏 ;

石倩 ;

花广如 ;

李聪 .

中国专利 :CN103398972A ,2013-11-20

[8]

一种复合绝缘子老化程度检测方法及系统 [P].

沈浩 ;

周超 ;

李丹丹 ;

雍军 ;

孟海磊 ;

刘辉 ;

曹洪铭 ;

梅红伟 ;

黄振宁 ;

耿博 ;

秦佳峰 ;

贾然 ;

张洋 ;

刘嵘 ;

刘传彬 ;

金阿龙 ;

朱庆钢 .

中国专利 :CN117607192A ,2024-02-27

[9]

基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法 [P].

付晶 ;

邵瑰玮 ;

闵绚 ;

胡霁 .

中国专利 :CN102519846A ,2012-06-27

[10]

基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法 [P].

邵瑰玮 ;

付晶 ;

蔡焕青 ;

王文龙 .

中国专利 :CN102520323A ,2012-06-27

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