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基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910745335.9
申请日：
2019-08-13
公开(公告)号：
CN110376214A
公开(公告)日：
2019-10-25
发明(设计)人：
吴广宁 邱彦 郭裕钧 张血琴 刘凯 高国强 杨泽锋 魏文赋
申请人：
申请人地址：
610031 四川省成都市二环路北一段
IPC主分类号：
G01N2194
IPC分类号：
代理机构：
成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229
代理人：
李蕊
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-10-25 公开 公开
2019-11-19 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/94 申请日:20190813
2021-08-10 授权 授权
共 50 条
[1]
基于显微高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法 [P]. 
吴广宁 ;
邱彦 ;
郭裕钧 ;
张血琴 ;
刘凯 ;
高国强 ;
高波 ;
杨雁 .
中国专利 :CN110261405A ,2019-09-20
[2]
基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法及系统 [P]. 
张龙 ;
高嵩 ;
朱孟周 ;
毕晓甜 ;
梁伟 ;
张照辉 .
中国专利 :CN108072667A ,2018-05-25
[3]
基于高光谱的绝缘子污秽成分和含量的检测方法及系统 [P]. 
肖嵘 ;
毛玮韵 ;
陆冰冰 ;
陈璐 ;
姚丽彬 ;
郭裕钧 ;
张血琴 ;
吴广宁 ;
肖嵩 .
中国专利 :CN114994069A ,2022-09-02
[4]
绝缘子污秽度检测方法 [P]. 
熊兰 ;
何为 ;
张占龙 ;
刘钰 ;
姚树友 ;
汪金刚 ;
何友忠 .
中国专利 :CN101661076A ,2010-03-03
[5]
基于高光谱的绝缘子污秽成分和含量的检测方法及系统 [P]. 
肖嵘 ;
毛玮韵 ;
陆冰冰 ;
陈璐 ;
姚丽彬 ;
郭裕钧 ;
张血琴 ;
吴广宁 ;
肖嵩 .
中国专利 :CN114994069B ,2024-05-14
[6]
基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法 [P]. 
李谦慧 ;
马御棠 ;
马仪 ;
张血琴 ;
彭兆裕 ;
颜冰 ;
刘冲 ;
周仿荣 ;
潘浩 ;
文刚 ;
郭裕钧 ;
刘凯 ;
刘毅杰 ;
高国强 .
中国专利 :CN110632092B ,2019-12-31
[7]
基于高光谱的室外绝缘子污秽程度检测方法及其系统 [P]. 
吴广宁 ;
林柯心 ;
郭裕钧 ;
张血琴 ;
肖嵩 ;
魏文赋 ;
黄桂灶 ;
高国强 .
中国专利 :CN115165908B ,2024-09-06
[8]
一种基于多源光谱感知技术的绝缘子污秽程度检测方法 [P]. 
刘益岑 ;
杨琳 ;
朱军 ;
白欢 ;
薛志航 ;
董汉彬 ;
殷成凤 ;
郭裕钧 ;
张血琴 ;
吴广宁 .
中国专利 :CN115047010A ,2022-09-13
[9]
一种基于多源光谱感知技术的绝缘子污秽程度检测方法 [P]. 
刘益岑 ;
杨琳 ;
朱军 ;
白欢 ;
薛志航 ;
董汉彬 ;
殷成凤 ;
郭裕钧 ;
张血琴 ;
吴广宁 .
中国专利 :CN115047010B ,2024-08-23
[10]
一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统 [P]. 
刘灵慧 ;
李保生 ;
韩涛 ;
赵全富 ;
黄娇 ;
亓晓卉 ;
玄永伟 ;
江泓澄 ;
张生凤 .
中国专利 :CN121007853A ,2025-11-25
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