基于高光谱的绝缘子污秽成分和含量的检测方法及系统

被引：0

申请号：

CN202210431990.9

申请日：

2022-04-22

公开(公告)号：

CN114994069A

公开(公告)日：

2022-09-02

发明(设计)人：

肖嵘毛玮韵陆冰冰陈璐姚丽彬郭裕钧张血琴吴广宁肖嵩

申请人：

申请人地址：

200122 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区源深路1122号

IPC主分类号：

G01N2194

IPC分类号：

G01N2125 G01N2131 G06V2010

代理机构：

北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870

代理人：

李林合

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-02	公开	公开
2022-09-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/94 申请日:20220422

共 50 条

[1]

基于高光谱的绝缘子污秽成分和含量的检测方法及系统 [P].

肖嵘 ;

毛玮韵 ;

陆冰冰 ;

陈璐 ;

姚丽彬 ;

郭裕钧 ;

张血琴 ;

吴广宁 ;

肖嵩 .

中国专利 :CN114994069B ,2024-05-14

[2]

基于显微高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法 [P].

吴广宁 ;

邱彦 ;

郭裕钧 ;

张血琴 ;

刘凯 ;

高国强 ;

高波 ;

杨雁 .

中国专利 :CN110261405A ,2019-09-20

[3]

基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法及系统 [P].

张龙 ;

高嵩 ;

朱孟周 ;

毕晓甜 ;

梁伟 ;

张照辉 .

中国专利 :CN108072667A ,2018-05-25

[4]

基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法 [P].

吴广宁 ;

邱彦 ;

郭裕钧 ;

张血琴 ;

刘凯 ;

高国强 ;

杨泽锋 ;

魏文赋 .

中国专利 :CN110376214A ,2019-10-25

[5]

基于高光谱的室外绝缘子污秽程度检测方法及其系统 [P].

吴广宁 ;

林柯心 ;

郭裕钧 ;

张血琴 ;

肖嵩 ;

魏文赋 ;

黄桂灶 ;

高国强 .

中国专利 :CN115165908B ,2024-09-06

[6]

绝缘子污秽成分高光谱识别方法 [P].

任明 ;

夏昌杰 ;

王彬 ;

董明 ;

徐广昊 ;

谢佳成 ;

张崇兴 ;

王思云 ;

段然 ;

郭晨希 ;

马馨逸 .

中国专利 :CN111257242A ,2020-06-09

[7]

基于多光谱融合的绝缘子污秽检测方法及系统 [P].

程宏波 ;

王政彤 ;

张一平 ;

李健 ;

常占宁 ;

刘磊 ;

曲子贤 ;

刘景 ;

穆永清 .

中国专利 :CN119198763B ,2025-03-18

[8]

基于多光谱融合的绝缘子污秽检测方法及系统 [P].

程宏波 ;

王政彤 ;

张一平 ;

李健 ;

常占宁 ;

刘磊 ;

曲子贤 ;

刘景 ;

穆永清 .

中国专利 :CN119198763A ,2024-12-27

[9]

基于解谱网络的绝缘子污秽成分识别方法和系统 [P].

刘静 ;

黄青丹 ;

黄慧红 ;

杨柳 ;

赵崇智 ;

宋浩永 ;

李助亚 ;

吴培伟 ;

魏晓东 ;

王婷延 ;

李东宇 ;

韦凯晴 .

中国专利 :CN115376005A ,2022-11-22

[10]

一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统 [P].

刘灵慧 ;

李保生 ;

韩涛 ;

赵全富 ;

黄娇 ;

亓晓卉 ;

玄永伟 ;

江泓澄 ;

张生凤 .

中国专利 :CN121007853A ,2025-11-25

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