链路测试方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510047674.1
申请日
2015-01-29
公开(公告)号
CN104618185A
公开(公告)日
2015-05-13
发明(设计)人
任雪玉 陈进 张迪 杨晓君 李婧 曾义和
申请人
申请人地址
100193 北京市海淀区东北旺西路8号院36号楼5层
IPC主分类号
H04L1226
IPC分类号
代理机构
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409
代理人
章社杲;卢军峰
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
链路测试装置及方法 [P]. 
许东 .
中国专利 :CN118656261A ,2024-09-17
[2]
下行链路的测试方法及装置 [P]. 
路东朝 ;
王奎 ;
罗昕 ;
王董平 .
中国专利 :CN115499350A ,2022-12-20
[3]
链路测试方法和装置及系统 [P]. 
窦战伟 ;
郭俊 ;
卢伟 .
中国专利 :CN107465565B ,2017-12-12
[4]
链路测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
高杰 .
中国专利 :CN120086079A ,2025-06-03
[5]
可变链路、CPU链路和高速接口连接模块及链路测试系统 [P]. 
胡涛 ;
杨晓君 ;
程鹏 ;
孙浩天 ;
孙浩 .
中国专利 :CN216623231U ,2022-05-27
[6]
一种链路测试方法及装置 [P]. 
赵玉龙 .
中国专利 :CN110928765A ,2020-03-27
[7]
光纤链路测试方法 [P]. 
张敏 ;
罗建权 .
中国专利 :CN106341181B ,2017-01-18
[8]
一种微波光子链路测试方法及装置 [P]. 
刘春阳 ;
胡智磊 ;
刘贝贝 ;
张志文 ;
刘红彬 ;
余永健 ;
杨建军 .
中国专利 :CN120200670B ,2025-10-14
[9]
一种微波光子链路测试方法及装置 [P]. 
刘春阳 ;
胡智磊 ;
刘贝贝 ;
张志文 ;
刘红彬 ;
余永健 ;
杨建军 .
中国专利 :CN120200670A ,2025-06-24
[10]
JTAG链路测试方法及其装置 [P]. 
曹锦业 .
中国专利 :CN101470170A ,2009-07-01