链路测试方法、装置、设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510199090.X

申请日：

2025-02-21

公开(公告)号：

CN120086079A

公开(公告)日：

2025-06-03

发明(设计)人：

高杰

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

李鹏宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20250221
2025-06-03	公开	公开

共 50 条

[1]

存储链路测试系统、方法、设备及存储介质 [P].

李萍 ;

李长治 ;

梁军凯 ;

路明远 ;

李德新 ;

冯晓洁 .

中国专利 :CN118860834B ,2025-02-18

[2]

存储链路测试系统、方法、设备及存储介质 [P].

李萍 ;

李长治 ;

梁军凯 ;

路明远 ;

李德新 ;

冯晓洁 .

中国专利 :CN118860834A ,2024-10-29

[3]

链路测试方法、电子设备、存储介质、产品及计算设备 [P].

池金波 .

中国专利 :CN119473744B ,2025-08-01

[4]

链路测试方法、电子设备、存储介质、产品及计算设备 [P].

池金波 .

中国专利 :CN119473744A ,2025-02-18

[5]

链路测试方法及装置 [P].

任雪玉 ;

陈进 ;

张迪 ;

杨晓君 ;

李婧 ;

曾义和 .

中国专利 :CN104618185A ,2015-05-13

[6]

链路质量的测试方法、设备及存储介质 [P].

张杰明 ;

李伟哲 .

中国专利 :CN114826978A ,2022-07-29

[7]

链路训练的测试方法、系统、设备及介质 [P].

邢科钰 .

中国专利 :CN120434149A ,2025-08-05

[8]

一种链路测试方法、装置、系统和存储介质 [P].

陈佳旭 .

中国专利 :CN115114101B ,2024-05-10

[9]

一种链路测试方法、装置、系统和存储介质 [P].

陈佳旭 .

中国专利 :CN115114101A ,2022-09-27

[10]

设备测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P].

蔡毅泉 ;

李生华 ;

蔡阳 ;

沈航 ;

庞观士 ;

林诗美 .

中国专利 :CN119201558A ,2024-12-27

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