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相干光谱测量系统及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111323369.2
申请日
:
2021-11-09
公开(公告)号
:
CN114018406A
公开(公告)日
:
2022-02-08
发明(设计)人
:
肖晔
夏施君
石暖暖
袁海庆
李明
申请人
:
申请人地址
:
100083 北京市海淀区清华东路甲35号
IPC主分类号
:
G01J328
IPC分类号
:
G01J310
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
樊晓
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-08
公开
公开
2022-02-25
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20211109
共 50 条
[1]
光谱测量系统及测量方法
[P].
戴琼海
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戴琼海
;
高彬
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高彬
;
张晶
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张晶
;
邵航
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邵航
;
范静涛
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范静涛
.
中国专利
:CN106841118A
,2017-06-13
[2]
双光梳光谱测量系统及其测量方法
[P].
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机构:
赵若灿
;
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机构:
黄川
;
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机构:
董春华
;
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机构:
薛向辉
;
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机构:
杨斌
;
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机构:
牛睿
;
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机构:
王冲
;
陈延娣
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机构:
中国科学技术大学
中国科学技术大学
陈延娣
;
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机构:
窦贤康
.
中国专利
:CN116429706B
,2024-05-10
[3]
光谱测量方法、装置
[P].
薛敏
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薛敏
;
朱贝贝
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朱贝贝
;
潘时龙
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潘时龙
;
曹源
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曹源
.
中国专利
:CN107121193A
,2017-09-01
[4]
浑浊介质多参数光谱测量方法及测量系统
[P].
田芃
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田芃
;
胡新华
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胡新华
;
金佳鸿
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金佳鸿
;
卢军青
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卢军青
.
中国专利
:CN109632651A
,2019-04-16
[5]
光谱测量系统
[P].
徐宁汉
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徐宁汉
;
肖晓飞
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肖晓飞
;
白本锋
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白本锋
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谭峭峰
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谭峭峰
;
金国藩
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金国藩
.
中国专利
:CN103499391B
,2014-01-08
[6]
光谱测量系统
[P].
张文君
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张文君
;
翟保才
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翟保才
;
董洪波
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董洪波
;
许键
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许键
.
中国专利
:CN103424188A
,2013-12-04
[7]
漫反射光谱测量装置及测量方法
[P].
李晨曦
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李晨曦
;
徐可欣
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徐可欣
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李胜
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李胜
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赵丕成
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赵丕成
;
汤海涛
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汤海涛
.
中国专利
:CN109444082A
,2019-03-08
[8]
漫反射光谱测量装置及测量方法
[P].
李晨曦
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机构:
天津九光科技发展有限责任公司
天津九光科技发展有限责任公司
李晨曦
;
徐可欣
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机构:
天津九光科技发展有限责任公司
天津九光科技发展有限责任公司
徐可欣
;
李胜
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机构:
天津九光科技发展有限责任公司
天津九光科技发展有限责任公司
李胜
;
赵丕成
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机构:
天津九光科技发展有限责任公司
天津九光科技发展有限责任公司
赵丕成
;
汤海涛
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机构:
天津九光科技发展有限责任公司
天津九光科技发展有限责任公司
汤海涛
.
中国专利
:CN109444082B
,2024-06-07
[9]
材料表面局部光谱测量装置及测量方法
[P].
徐耿钊
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徐耿钊
;
刘争晖
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刘争晖
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钟海舰
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钟海舰
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樊英民
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樊英民
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曾雄辉
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曾雄辉
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周桃飞
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周桃飞
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邱永鑫
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邱永鑫
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王建峰
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王建峰
;
徐科
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徐科
.
中国专利
:CN102519885B
,2012-06-27
[10]
海底底质界面水下光谱测量系统及测量方法
[P].
杨跃忠
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杨跃忠
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许占堂
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许占堂
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李彩
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李彩
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周雯
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周雯
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王桂芬
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王桂芬
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曹文熙
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曹文熙
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曾凯
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曾凯
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中国专利
:CN108333122A
,2018-07-27
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