用于生成X射线成像数据的装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980051507.0

申请日：

2019-08-01

公开(公告)号：

CN112533537A

公开(公告)日：

2021-03-19

发明(设计)人：

T·克勒 G·福格特米尔 A·亚罗申科

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

A61B600

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

刘兆君

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/00 申请日:20190801
2021-03-19	公开	公开

共 50 条

[1]

用于生成X射线成像数据的装置 [P].

T·克勒 ;

G·福格特米尔 ;

A·亚罗申科 .

:CN112533537B ,2024-09-20

[2]

光谱生成的立体x射线成像 [P].

S·克伦克-希勒 ;

S·M·扬 .

:CN121038702A ,2025-11-28

[3]

用于对对象进行X射线成像的装置 [P].

R·K·O·贝林 .

中国专利 :CN109414232A ,2019-03-01

[4]

用于对对象进行X射线成像的装置 [P].

T·克勒 ;

H-I·马克 ;

T·普拉洛 .

中国专利 :CN108289649B ,2018-07-17

[5]

用于X射线成像设施的检查台和X射线成像设施 [P].

贝特霍尔德·鲍曼 ;

安德烈亚斯·布赫脑尔 ;

托马斯·迪普 ;

康斯坦丁·克诺特 ;

沃尔夫冈·诺伊贝尔 .

中国专利 :CN217285823U ,2022-08-26

[6]

用于3D x射线成像的装置和方法 [P].

P·G·范德哈尔 .

中国专利 :CN1938729A ,2007-03-28

[7]

X射线成像参考扫描 [P].

A·亚罗申科 ;

T·克勒 ;

P·B·T·诺埃尔 ;

F·德马尔科 ;

L·B·格罗曼 ;

K·维勒 .

中国专利 :CN111107787A ,2020-05-05

[8]

用于X射线成像的探测器 [P].

P·G·范德哈尔 ;

W·吕腾 ;

H·施泰因豪泽 ;

H·斯特格胡伊斯 ;

O·J·维默斯 .

中国专利 :CN111684311A ,2020-09-18

[9]

对相衬X射线成像和/或暗场X射线成像中的X射线入射条纹图样的X射线探测 [P].

R·斯特德曼布克 ;

E·勒斯尔 ;

W·吕腾 .

中国专利 :CN109863424A ,2019-06-07

[10]

X射线成像装置 [P].

傅言宁 .

中国专利 :CN107072609A ,2017-08-18

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