基于多阶数分数阶小波包变换的芯片外观缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010121346.2

申请日：

2020-02-26

公开(公告)号：

CN111402204B

公开(公告)日：

2020-07-10

发明(设计)人：

孙昊刘伟华高会军

申请人：

申请人地址：

150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06K962 G01N2195

代理机构：

哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109

代理人：

张换男

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-06	授权	授权
2020-07-10	公开	公开
2020-08-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20200226

共 50 条

[1]

基于小波包变换的频谱成像方法 [P].

周开明 ;

刘贤红 ;

陈鹏 .

中国专利 :CN107515421B ,2017-12-26

[2]

一种基于激光全息成像技术的芯片外观缺陷检测方法 [P].

任获荣 ;

王颖 ;

樊康旗 ;

孙通 ;

吕银飞 ;

黄雪影 .

中国专利 :CN114494139A ,2022-05-13

[3]

一种基于激光全息成像技术的芯片外观缺陷检测方法 [P].

任获荣 ;

王颖 ;

樊康旗 ;

孙通 ;

吕银飞 ;

黄雪影 .

中国专利 :CN114494139B ,2024-11-22

[4]

基于改进小波包变换的光伏集群并网系统的谐振检测方法 [P].

李鹏 ;

高静 ;

武昭 ;

黄仁乐 ;

孙健 ;

王存平 ;

常乾坤 .

中国专利 :CN106291104A ,2017-01-04

[5]

基于图像处理的LED芯片外观缺陷检测方法 [P].

徐平 ;

季辉 ;

黄胜蓝 ;

彭超 .

中国专利 :CN121190430A ,2025-12-23

[6]

一种基于机器视觉的LED芯片外观缺陷检测方法及系统 [P].

周圣军 ;

万勇康 ;

单忠频 ;

徐浩浩 .

中国专利 :CN110349125A ,2019-10-18

[7]

基于小波包变换与STFT相融合的电网谐波检测方法及装置 [P].

张健 ;

宋文广 .

中国专利 :CN112362966A ,2021-02-12

[8]

基于小波包能量的高压断路器缺陷诊断方法 [P].

宋健 ;

张健鹏 ;

王传斌 ;

黄红生 ;

仲文锦 ;

蒋宁 ;

申新秀 ;

陈伟 .

中国专利 :CN108828440A ,2018-11-16

[9]

基于光学检测的Mini LED晶圆外观缺陷检测方法 [P].

曹剑钢 .

中国专利 :CN115290663B ,2022-12-30

[10]

基于分数阶傅里叶变换的语音非语音检测方法 [P].

张卫强 ;

刘加 .

中国专利 :CN103578466A ,2014-02-12

← 1 2 3 4 5 →