电压检测电路、半导体装置以及半导体装置的制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910669914.X

申请日：

2019-07-24

公开(公告)号：

CN110850312A

公开(公告)日：

2020-02-28

发明(设计)人：

金泽雄亮

申请人：

申请人地址：

日本千叶县

IPC主分类号：

G01R31388

IPC分类号：

G01R3136

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

马建军;邓毅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/388 申请日:20190724
2020-02-28	公开	公开

共 50 条

[1]

电压检测电路、电源装置以及半导体装置 [P].

八谷佳明 .

中国专利 :CN1684351A ,2005-10-19

[2]

电源电压检测电路、半导体装置以及电子设备 [P].

及川延幸 ;

桑野俊一 .

中国专利 :CN110196397A ,2019-09-03

[3]

调节器电压检测电路以及半导体装置 [P].

藤野隆良 .

日本专利 :CN118688496A ,2024-09-24

[4]

电压异常检测电路和半导体装置 [P].

五十岚敦史 .

中国专利 :CN108227811B ,2018-06-29

[5]

半导体装置以及半导体模块 [P].

吉田宽 ;

大山香子 ;

田中良和 ;

鱼田紫织 ;

西田信也 .

中国专利 :CN104578719A ,2015-04-29

[6]

检测电路、半导体集成电路、半导体装置以及控制方法 [P].

仁藤与晴 ;

大高章二 ;

田垄礼二 .

日本专利 :CN119817036A ,2025-04-11

[7]

半导体电路、电压检测电路以及电压判定电路 [P].

竹村崇 .

中国专利 :CN105591636A ,2016-05-18

[8]

电压生成电路以及半导体装置 [P].

大岩广司 .

中国专利 :CN115113672A ,2022-09-27

[9]

半导体装置的制造方法、半导体制造装置以及半导体装置 [P].

秋好恭兵 ;

中西洋介 ;

山田胜 .

日本专利 :CN118658824A ,2024-09-17

[10]

半导体装置的制造方法、半导体晶片以及半导体装置 [P].

保利幸隆 .

中国专利 :CN101145521B ,2008-03-19

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