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荧光X射线分析装置
被引：0
申请号：
CN202080082985.0
申请日：
2020-12-01
公开(公告)号：
CN114746744A
公开(公告)日：
2022-07-12
发明(设计)人：
二位肇
申请人：
申请人地址：
日本京都府
IPC主分类号：
G01N23223
IPC分类号：
代理机构：
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人：
李成必;李雪春
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-07-12 | 公开 | 公开 |