荧光X射线分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310005481.0

申请日：

2013-01-08

公开(公告)号：

CN103364424A

公开(公告)日：

2013-10-23

发明(设计)人：

多田正市谷向贤

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

北京三幸商标专利事务所 11216

代理人：

刘激扬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101602304085 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2013100054810 申请日:20130108
2017-03-01	授权	授权
2013-10-23	公开	公开

共 50 条

[1]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

深井隆行 ;

的场吉毅 ;

大柿真毅 .

中国专利 :CN109459458A ,2019-03-12

[2]

荧光X射线分析装置 [P].

二位肇 .

中国专利 :CN114746744A ,2022-07-12

[3]

荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法 [P].

斋藤佑多 .

中国专利 :CN112105919A ,2020-12-18

[4]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

高原稔幸 .

中国专利 :CN105628724A ,2016-06-01

[5]

荧光X射线分析装置 [P].

森久祐司 .

日本专利 :CN119023721A ,2024-11-26

[6]

荧光X射线分析装置 [P].

片冈由行 ;

古泽卫一 ;

河野久征 .

中国专利 :CN1932493A ,2007-03-21

[7]

荧光X射线分析装置 [P].

河野久征 ;

庄司孝 ;

堂井真 .

中国专利 :CN1739023B ,2006-02-22

[8]

荧光X射线分析装置 [P].

迫幸雄 .

中国专利 :CN110088603A ,2019-08-02

[9]

荧光X射线分析装置 [P].

川上裕幸 .

日本专利 :CN118556183A ,2024-08-27

[10]

荧光X射线分析装置 [P].

的场吉毅 ;

深井隆行 ;

高桥正则 ;

一宫丰 .

中国专利 :CN101052870A ,2007-10-10

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