荧光X射线分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310005481.0

申请日：

2013-01-08

公开(公告)号：

CN103364424A

公开(公告)日：

2013-10-23

发明(设计)人：

多田正市谷向贤

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

北京三幸商标专利事务所 11216

代理人：

刘激扬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101602304085 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2013100054810 申请日:20130108
2017-03-01	授权	授权
2013-10-23	公开	公开

共 50 条

[21]

荧光X射线分析装置及荧光X射线分析装置的控制方法 [P].

山本悦久 ;

山田康治郎 ;

原真也 .

中国专利 :CN114207421A ,2022-03-18

[22]

X射线源和荧光X射线分析装置 [P].

青木延忠 ;

角谷晶子 .

中国专利 :CN101310359A ,2008-11-19

[23]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

泉山优树 .

日本专利 :CN119064395A ,2024-12-03

[24]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

佐久田昌博 ;

坂井范昭 ;

长谷川清 .

中国专利 :CN103575757A ,2014-02-12

[25]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

佐久田昌博 .

中国专利 :CN103308539B ,2013-09-18

[26]

荧光X射线分析方法以及荧光X射线分析装置 [P].

片冈由行 ;

川久航介 .

中国专利 :CN110312928B ,2019-10-08

[27]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

铃木桂次郎 ;

八岛志保 ;

克里恩卡莫尔·坦特拉卡恩 .

日本专利 :CN119096139A ,2024-12-06

[28]

荧光X射线分析方法及荧光X射线分析装置 [P].

谷美幸 ;

岩本洋 ;

久角隆雄 ;

岩田进裕 ;

坂口悦美 .

中国专利 :CN1947003A ,2007-04-11

[29]

荧光X射线分析方法及荧光X射线分析装置 [P].

寺下卫作 .

中国专利 :CN105637352A ,2016-06-01

[30]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

长谷川清 ;

一宫丰 ;

泷口英树 .

中国专利 :CN102384924A ,2012-03-21

← 1 2 3 4 5 →