荧光X射线分析方法及荧光X射线分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200580013286.6

申请日：

2005-04-27

公开(公告)号：

CN1947003A

公开(公告)日：

2007-04-11

发明(设计)人：

谷美幸岩本洋久角隆雄岩田进裕坂口悦美

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

汪惠民

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-05-26	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101002218135 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2005800132866 变更事项:发明人变更前:谷美幸;岩本洋;久角隆雄;岩田进裕;坂口悦美变更后:谷美幸;岩本洋;久角隆雄;岩田进裕;坂口悦美;长谷川清
2007-04-11	公开	公开
2014-08-20	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101704078761 IPC(主分类):G01N 23/223 专利号:ZL2005800132866 变更事项:专利权人变更前:松下电器产业株式会社变更后:松下电器产业株式会社变更事项:地址变更前:日本大阪府变更后:日本大阪府变更事项:专利权人变更前:精工电子纳米科技有限公司变更后:日本株式会社日立高新技术科学
2007-06-06	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-05-26	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101002218134 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2005800132866 变更事项:申请人变更前权利人:松下电器产业株式会社变更后权利人:松下电器产业株式会社变更事项:地址变更前权利人:日本大阪府变更后权利人:日本大阪府变更事项:共同申请人变更前权利人:无变更后权利人:精工电子纳米科技有限公司登记生效日:20100416
2010-12-29	授权	授权

共 50 条

[1]

荧光X射线分析方法及荧光X射线分析装置 [P].

寺下卫作 .

中国专利 :CN105637352A ,2016-06-01

[2]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

泉山优树 .

日本专利 :CN119064395A ,2024-12-03

[3]

荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法 [P].

斋藤佑多 .

中国专利 :CN112105919A ,2020-12-18

[4]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

高原稔幸 .

中国专利 :CN105628724A ,2016-06-01

[5]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

佐久田昌博 .

中国专利 :CN103308539B ,2013-09-18

[6]

荧光X射线分析方法以及荧光X射线分析装置 [P].

片冈由行 ;

川久航介 .

中国专利 :CN110312928B ,2019-10-08

[7]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

铃木桂次郎 ;

八岛志保 ;

克里恩卡莫尔·坦特拉卡恩 .

日本专利 :CN119096139A ,2024-12-06

[8]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

佐久田昌博 ;

坂井范昭 ;

长谷川清 .

中国专利 :CN103575757A ,2014-02-12

[9]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

长谷川清 ;

一宫丰 ;

泷口英树 .

中国专利 :CN102384924A ,2012-03-21

[10]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

深井隆行 ;

的场吉毅 ;

大柿真毅 .

中国专利 :CN109459458A ,2019-03-12

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