X射线源和荧光X射线分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200780000164.2

申请日：

2007-02-01

公开(公告)号：

CN101310359A

公开(公告)日：

2008-11-19

发明(设计)人：

青木延忠角谷晶子

申请人：

申请人地址：

日本栃木县

IPC主分类号：

H01J3508

IPC分类号：

G01N23223 H01J3510 H01J3518 H01J3526

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

沈昭坤

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-11-19	公开	公开
2009-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-04-13	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101080531576 IPC(主分类):H01J 35/08 专利申请号:2007800001642 公开日:20081119

共 50 条

[1]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

高原稔幸 .

中国专利 :CN105628724A ,2016-06-01

[2]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

深井隆行 ;

的场吉毅 ;

大柿真毅 .

中国专利 :CN109459458A ,2019-03-12

[3]

荧光X射线源 [P].

G·哈丁格 ;

B·R·达维德 .

中国专利 :CN1791960A ,2006-06-21

[4]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

泉山优树 .

日本专利 :CN119064395A ,2024-12-03

[5]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

佐久田昌博 ;

坂井范昭 ;

长谷川清 .

中国专利 :CN103575757A ,2014-02-12

[6]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

佐久田昌博 .

中国专利 :CN103308539B ,2013-09-18

[7]

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P].

铃木桂次郎 ;

八岛志保 ;

克里恩卡莫尔·坦特拉卡恩 .

日本专利 :CN119096139A ,2024-12-06

[8]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

长谷川清 ;

一宫丰 ;

泷口英树 .

中国专利 :CN102384924A ,2012-03-21

[9]

荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法 [P].

斋藤佑多 .

中国专利 :CN112105919A ,2020-12-18

[10]

X射线源和X射线成像设备 [P].

谭承君 ;

黄文会 ;

靳清秀 ;

唐传祥 ;

刘东海 ;

罗群 ;

吴沛东 ;

张路明 ;

徐丛 ;

宋程 ;

丁云泽 ;

王硕 .

中国专利 :CN210535623U ,2020-05-15

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