气体密度继电器校验仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120343213.6

申请日：

2011-09-14

公开(公告)号：

CN202221468U

公开(公告)日：

2012-05-16

发明(设计)人：

张灿利刘海永曹瑞宾董继亮

申请人：

申请人地址：

450001 河南省郑州市高新区碧桃路1号

IPC主分类号：

G01R31327

IPC分类号：

代理机构：

郑州异开专利事务所(普通合伙) 41114

代理人：

韩华

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-09-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/327 申请日:20110914 授权公告日:20120516 终止日期:20170914
2012-05-16	授权	授权

共 50 条

[1]

密度继电器校验仪 [P].

张灿利 ;

宁文远 ;

李东辉 ;

孔金山 .

中国专利 :CN201242498Y ,2009-05-20

[2]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

吴伟 ;

杨文举 .

中国专利 :CN102103016A ,2011-06-22

[3]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

张灿利 ;

郝尚平 .

中国专利 :CN200986521Y ,2007-12-05

[4]

密度继电器校验仪 [P].

臧志忠 ;

董方 .

中国专利 :CN211651982U ,2020-10-09

[5]

密度继电器校验仪 [P].

郑立登 ;

林芬 .

中国专利 :CN208207156U ,2018-12-07

[6]

密度继电器校验仪 [P].

丁五行 ;

蔡洪波 ;

李群 ;

李宝明 ;

舒广铭 ;

王鑫 ;

闫博 ;

程凤芝 ;

黄波 .

中国专利 :CN208125892U ,2018-11-20

[7]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

苏丽芳 .

中国专利 :CN201004042Y ,2008-01-09

[8]

一种气体密度继电器校验仪 [P].

许任阳 ;

庄晓丽 .

中国专利 :CN206601487U ,2017-10-31

[9]

六氟化硫气体密度继电器校验仪 [P].

金海勇 .

中国专利 :CN2574047Y ,2003-09-17

[10]

用于气体密度继电器的校验仪 [P].

胡亮 ;

赵丹 ;

黄跃刚 .

中国专利 :CN119246328A ,2025-01-03

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