用于气体密度继电器的校验仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411328242.3

申请日：

2024-09-23

公开(公告)号：

CN119246328A

公开(公告)日：

2025-01-03

发明(设计)人：

胡亮赵丹黄跃刚

申请人：

朗松珂利（上海）仪器仪表有限公司

申请人地址：

201108 上海市闵行区金都路3679弄50号

IPC主分类号：

G01N9/36

IPC分类号：

G01R31/327

代理机构：

上海音科专利商标代理有限公司 31267

代理人：

孙静

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 9/36申请日:20240923
2025-01-03	公开	公开

共 50 条

[1]

气体密度继电器校验仪 [P].

张灿利 ;

刘海永 ;

曹瑞宾 ;

董继亮 .

中国专利 :CN202221468U ,2012-05-16

[2]

密度继电器校验仪 [P].

臧志忠 ;

董方 .

中国专利 :CN211651982U ,2020-10-09

[3]

密度继电器校验仪 [P].

郑立登 ;

林芬 .

中国专利 :CN208207156U ,2018-12-07

[4]

密度继电器校验仪 [P].

丁五行 ;

蔡洪波 ;

李群 ;

李宝明 ;

舒广铭 ;

王鑫 ;

闫博 ;

程凤芝 ;

黄波 .

中国专利 :CN208125892U ,2018-11-20

[5]

密度继电器校验仪 [P].

张灿利 ;

宁文远 ;

李东辉 ;

孔金山 .

中国专利 :CN201242498Y ,2009-05-20

[6]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

苏丽芳 .

中国专利 :CN201004042Y ,2008-01-09

[7]

一种气体密度继电器校验仪 [P].

许任阳 ;

庄晓丽 .

中国专利 :CN206601487U ,2017-10-31

[8]

一种气体密度继电器校验仪 [P].

吴伟 ;

杨文举 .

中国专利 :CN102103187A ,2011-06-22

[9]

SF6气体密度继电器校验仪及校验流程 [P].

苏丽芳 .

中国专利 :CN101221217A ,2008-07-16

[10]

SF6气体密度继电器校验仪 [P].

吴伟 ;

杨文举 .

中国专利 :CN102103016A ,2011-06-22

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