测试系统及其测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710355469.0

申请日：

2017-05-19

公开(公告)号：

CN108957159A

公开(公告)日：

2018-12-07

发明(设计)人：

王昱昇王宏伦苏承洋

申请人：

申请人地址：

中国台湾台北市南港区成功路一段32号6楼

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R3102 G01R130 G01R136

代理机构：

北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315

代理人：

许志勇;李有财

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-07	公开	公开
2021-07-23	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20181207
2019-01-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20170519

共 50 条

[1]

测试电路、测试系统及其测试方法 [P].

蒋昊 .

中国专利 :CN113176482A ,2021-07-27

[2]

一种测试电路及其测试方法、测试系统 [P].

高弘玮 ;

张国庆 ;

杨红霞 ;

赵普查 ;

白晓鹏 ;

赵科 ;

贾智慧 ;

宗岩 ;

王晓伟 ;

刘耀荣 .

中国专利 :CN108562839A ,2018-09-21

[3]

测试电路和测试系统 [P].

李德冲 ;

黄晨 .

中国专利 :CN119758159A ,2025-04-04

[4]

测试电路及测试系统 [P].

吴永隆 ;

孙瑞 ;

何文基 ;

朱铭 .

中国专利 :CN221378435U ,2024-07-19

[5]

测试电路和测试系统 [P].

曹龙 ;

沙祥彪 ;

晏显栋 ;

吕厚登 ;

周红胜 .

中国专利 :CN114460486A ,2022-05-10

[6]

测试电路及测试系统 [P].

田晨 .

中国专利 :CN208636408U ,2019-03-22

[7]

测试电路、测试系统及测试方法 [P].

吴永隆 ;

孙瑞 ;

何文基 ;

朱铭 .

中国专利 :CN117631339A ,2024-03-01

[8]

测试电路、测试板及测试系统 [P].

官勐杰 ;

刘敏 ;

齐鲁欣 .

中国专利 :CN114994510A ,2022-09-02

[9]

芯片管脚测试电路及测试系统 [P].

罗春艺 ;

李刚 .

中国专利 :CN215866993U ,2022-02-18

[10]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

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