一种测试电路及其测试方法、测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810264950.3

申请日：

2018-03-28

公开(公告)号：

CN108562839A

公开(公告)日：

2018-09-21

发明(设计)人：

高弘玮张国庆杨红霞赵普查白晓鹏赵科贾智慧宗岩王晓伟刘耀荣

申请人：

申请人地址：

017020 内蒙古自治区鄂尔多斯市东胜区鄂尔多斯装备制造基地

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G09G300

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;刘伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20180328
2018-09-21	公开	公开

共 50 条

[1]

测试电路、测试板及测试系统 [P].

官勐杰 ;

刘敏 ;

齐鲁欣 .

中国专利 :CN114994510A ,2022-09-02

[2]

一种扬声器异音测试系统及其测试方法 [P].

耿建军 ;

秦洋 .

中国专利 :CN110278522A ,2019-09-24

[3]

AMOLED面板测试电路及测试方法 [P].

周思思 .

中国专利 :CN109584760A ,2019-04-05

[4]

SRAM时序测试电路及测试方法 [P].

陈根华 ;

徐柯 ;

王林 .

中国专利 :CN111341376B ,2020-06-26

[5]

时间测试电路及时间测试方法 [P].

杨昊 ;

杨鸣 ;

苟欣 ;

田沐鑫 ;

曾宇乾 .

中国专利 :CN106970519A ,2017-07-21

[6]

一种测试电路 [P].

李东声 .

中国专利 :CN108459218B ,2018-08-28

[7]

测试系统及其测试电路 [P].

王昱昇 ;

王宏伦 ;

苏承洋 .

中国专利 :CN108957159A ,2018-12-07

[8]

测试系统、测试信号辅助装置及其测试信号产生的方法 [P].

施文晖 ;

王嘉源 ;

胡焕捷 ;

刘鼎文 .

中国专利 :CN102735890A ,2012-10-17

[9]

集成电路测试系统时间传递标准器组及其测试方法 [P].

赵昭 ;

于利红 ;

张继平 .

中国专利 :CN107329103A ,2017-11-07

[10]

测试电路、测试系统及其测试方法 [P].

蒋昊 .

中国专利 :CN113176482A ,2021-07-27

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