时间测试电路及时间测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710349637.5

申请日：

2017-05-17

公开(公告)号：

CN106970519A

公开(公告)日：

2017-07-21

发明(设计)人：

杨昊杨鸣苟欣田沐鑫曾宇乾

申请人：

申请人地址：

315211 浙江省宁波市江北区风华路818号

IPC主分类号：

G04F1000

IPC分类号：

代理机构：

宁波诚源专利事务所有限公司 33102

代理人：

徐雪波;王莹

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-21	公开	公开
2019-10-18	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G04F 10/00 申请公布日:20170721
2017-08-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101741971513 IPC(主分类):G04F 10/00 专利申请号:2017103496375 申请日:20170517

共 50 条

[1]

SRAM访问时间的测试电路与测试方法 [P].

陈双文 ;

郝旭丹 ;

方伟 .

中国专利 :CN106158044A ,2016-11-23

[2]

SRAM建立保持时间测试电路 [P].

张静 ;

方伟 .

中国专利 :CN110033819B ,2019-07-19

[3]

集成电路测试系统时间传递标准器组及其测试方法 [P].

赵昭 ;

于利红 ;

张继平 .

中国专利 :CN107329103A ,2017-11-07

[4]

测试单元电路、测量电路及时间相关介电击穿的测试方法 [P].

周国煜 ;

骆祈宏 .

中国专利 :CN120761792A ,2025-10-10

[5]

集成电路测试系统时间传递标准器组 [P].

赵昭 ;

于利红 ;

张继平 .

中国专利 :CN207148302U ,2018-03-27

[6]

时间参数测试电路 [P].

钟锋浩 .

中国专利 :CN105158671B ,2015-12-16

[7]

时间参数测试电路 [P].

钟锋浩 .

中国专利 :CN204925332U ,2015-12-30

[8]

一种换向时间测试器 [P].

毕晓龙 ;

管洪辉 .

中国专利 :CN207816591U ,2018-09-04

[9]

SRAM时序测试电路及测试方法 [P].

陈根华 ;

徐柯 ;

王林 .

中国专利 :CN111341376B ,2020-06-26

[10]

一种测试电路及其测试方法、测试系统 [P].

高弘玮 ;

张国庆 ;

杨红霞 ;

赵普查 ;

白晓鹏 ;

赵科 ;

贾智慧 ;

宗岩 ;

王晓伟 ;

刘耀荣 .

中国专利 :CN108562839A ,2018-09-21

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