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集成电路测试系统时间传递标准器组及其测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201710713893.8
申请日：
2017-08-18
公开(公告)号：
CN107329103A
公开(公告)日：
2017-11-07
发明(设计)人：
赵昭
于利红
张继平
申请人：
申请人地址：
100176 北京市大兴区亦庄经济技术开发区同济南路8号
IPC主分类号：
G01R3500
IPC分类号：
G01R3100
代理机构：
北京慧智兴达知识产权代理有限公司 11615
代理人：
韩龙;郭群
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2017-11-07 | 公开 | 公开 |
| 2017-12-01 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20170818 |