共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
集成电路测试系统及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910998342.X
申请日：
2019-10-21
公开(公告)号：
CN110780184A
公开(公告)日：
2020-02-11
发明(设计)人：
朱本强
申请人：
申请人地址：
430074 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京成创同维知识产权代理有限公司 11449
代理人：
蔡纯;张靖琳
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-02-11 | 公开 | 公开 |
| 2020-03-06 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20191021 |