集成电路测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610121434.2

申请日：

2006-08-22

公开(公告)号：

CN101131409A

公开(公告)日：

2008-02-27

发明(设计)人：

梁文山苏哲毅

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01M1100

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司

代理人：

谢丽娜;陈肖梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-04-23	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-12-30	授权	授权
2008-02-27	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02

[2]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[3]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

顾良波 ;

张志勇 ;

余琨 ;

王锦 ;

叶建明 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07

[4]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

朱本强 .

中国专利 :CN110780184A ,2020-02-11

[5]

集成电路测试系统的点检方法以及集成电路测试系统 [P].

金浩 ;

边垚垚 .

中国专利 :CN119926810A ,2025-05-06

[6]

集成电路测试系统 [P].

张悦 .

中国专利 :CN210007709U ,2020-01-31

[7]

集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31

[8]

集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN108107309A ,2018-06-01

[9]

集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN203909236U ,2014-10-29

[10]

集成电路测试系统 [P].

林益民 .

中国专利 :CN1611957A ,2005-05-04

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