IC试验装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN99104796.6
申请日
1999-04-02
公开(公告)号
CN1232184A
公开(公告)日
1999-10-20
发明(设计)人
中村浩人 根本真 山下和之
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G11C2900
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
王永刚
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
IC试验装置 [P]. 
向菊 .
中国专利 :CN213091815U ,2021-04-30
[2]
IC试验装置 [P]. 
齐藤登 .
中国专利 :CN1124492C ,2000-01-19
[3]
IC试验装置及IC实验装置的误动作防止方法 [P]. 
大西武士 .
中国专利 :CN1135395C ,1999-09-29
[4]
试验装置 [P]. 
马东辉 ;
高岳旸 .
中国专利 :CN207850705U ,2018-09-11
[5]
试验装置 [P]. 
蔡传雄 ;
张源 ;
钟成 ;
吴波 ;
魏斯芳 ;
陈德清 .
中国专利 :CN212159983U ,2020-12-15
[6]
试验装置 [P]. 
日下崇 ;
石田雅裕 .
中国专利 :CN103293459B ,2013-09-11
[7]
试验装置 [P]. 
李唐 ;
赵北 ;
柳枫 .
中国专利 :CN215812093U ,2022-02-11
[8]
试验装置 [P]. 
乔利军 ;
丁顾军 ;
朱加凯 .
中国专利 :CN216812028U ,2022-06-24
[9]
试验装置 [P]. 
周期旺 ;
谢伟藩 ;
彭志遒 ;
梁宇清 ;
眭绍清 .
中国专利 :CN217878369U ,2022-11-22
[10]
试验装置 [P]. 
渡边直良 ;
佐藤茂行 ;
内海良一 .
中国专利 :CN113748350A ,2021-12-03