IC试验装置

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专利类型
发明
申请号
CN99108832.8
申请日
1999-06-25
公开(公告)号
CN1124492C
公开(公告)日
2000-01-19
发明(设计)人
齐藤登
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G01R3128 H01L2166
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
王永刚
法律状态
实质审查请求的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
IC试验装置 [P]. 
向菊 .
中国专利 :CN213091815U ,2021-04-30
[2]
IC试验装置 [P]. 
中村浩人 ;
根本真 ;
山下和之 .
中国专利 :CN1232184A ,1999-10-20
[3]
试验装置 [P]. 
日下崇 ;
石田雅裕 .
中国专利 :CN103293459B ,2013-09-11
[4]
试验装置 [P]. 
周期旺 ;
谢伟藩 ;
彭志遒 ;
梁宇清 ;
眭绍清 .
中国专利 :CN217878369U ,2022-11-22
[5]
试验装置 [P]. 
渡边直良 ;
佐藤茂行 ;
内海良一 .
中国专利 :CN113748350A ,2021-12-03
[6]
试验装置 [P]. 
渡边直良 ;
佐藤茂行 ;
内海良一 .
日本专利 :CN113748350B ,2024-11-26
[7]
试验装置 [P]. 
渡边直良 ;
佐藤茂行 ;
内海良一 .
中国专利 :CN113748496A ,2021-12-03
[8]
试验装置 [P]. 
B.G.詹森 .
中国专利 :CN103792074A ,2014-05-14
[9]
轮胎试验装置 [P]. 
橘诚 ;
吾川二郎 ;
今村守宏 ;
上田达也 ;
宫本义则 .
中国专利 :CN103370609A ,2013-10-23
[10]
加压试验装置 [P]. 
陈胜坚 .
中国专利 :CN103605018A ,2014-02-26