一种微型发光器件空间光色分布检测系统及其检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110429396.1

申请日：

2021-04-21

公开(公告)号：

CN113218628B

公开(公告)日：

2021-08-06

发明(设计)人：

吕毅军李震张宁宁阮育娇朱丽虹高玉琳郭伟杰吴挺竹陈忠

申请人：

申请人地址：

361005 福建省厦门市思明区思明南路422号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200

代理人：

马应森

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-13	授权	授权
2021-08-06	公开	公开
2021-08-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20210421

共 50 条

[1]

一种微型发光器件阵列单像素的光色检测系统及检测方法 [P].

吕毅军 ;

李震 ;

朱丽虹 ;

高玉琳 ;

郭伟杰 ;

林岳 ;

吴挺竹 ;

陈忠 .

中国专利 :CN114264452A ,2022-04-01

[2]

一种发光器件、发光器件检测方法及系统 [P].

方方 ;

林凯旋 ;

邱岳 .

中国专利 :CN115224177B ,2025-09-23

[3]

量子点发光器件的检测方法及检测系统 [P].

王成 .

中国专利 :CN120233197A ,2025-07-01

[4]

微型透镜检测系统及其检测方法 [P].

赵茂雄 ;

石磊 ;

张译文 ;

陈昂 ;

胡松婷 ;

殷海玮 ;

资剑 .

中国专利 :CN111397861A ,2020-07-10

[5]

电磁分布检测系统及其电磁分布检测方法 [P].

杨晖 ;

杨海马 ;

宋磊磊 ;

于小强 .

中国专利 :CN103149459A ,2013-06-12

[6]

一种光致发光检测系统以及检测方法 [P].

陈鲁 ;

李志强 ;

贺金龙 .

中国专利 :CN119375657A ,2025-01-28

[7]

一种器件检测系统及其方法 [P].

蔡茂霖 ;

明奇 ;

宋福宝 ;

杨斌 ;

郑开印 .

中国专利 :CN114355091A ,2022-04-15

[8]

一种器件检测系统及其方法 [P].

蔡茂霖 ;

明奇 ;

宋福宝 ;

杨斌 ;

郑开印 .

中国专利 :CN114355091B ,2024-09-06

[9]

发光源检测系统及其检测方法 [P].

李后贤 .

中国专利 :CN109975300B ,2019-07-05

[10]

发光光源光色检测系统及光色比对方法 [P].

余泓颖 ;

魏水林 ;

邓干辉 .

中国专利 :CN114323284A ,2022-04-12

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