一种智能测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201721627556.9
申请日
2017-11-29
公开(公告)号
CN207816562U
公开(公告)日
2018-09-04
发明(设计)人
吴浩
申请人
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山市高新区寰庆路2618号
IPC主分类号
G01M1100
IPC分类号
G01R3100
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
胡彬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种智能测试装置 [P]. 
吴浩 .
中国专利 :CN107817091A ,2018-03-20
[2]
一种磁轨测试装置 [P]. 
顾欣 .
中国专利 :CN213149218U ,2021-05-07
[3]
一种智能PDU电源测试装置 [P]. 
易多智 ;
刘斌 .
中国专利 :CN216954644U ,2022-07-12
[4]
一种内存芯片测试装置 [P]. 
吴茂兵 ;
卢焦 .
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[5]
一种测试装置 [P]. 
高崇 ;
陶培培 ;
史晓波 .
中国专利 :CN213239894U ,2021-05-18
[6]
一种IPC智能测试装置 [P]. 
周国静 ;
王祖波 ;
廖静 .
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[7]
一种EMC智能测试装置 [P]. 
龚从平 ;
张九林 ;
代中 ;
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万驰浩 .
中国专利 :CN218240264U ,2023-01-06
[8]
一种智能通信测试装置 [P]. 
曾幸钦 ;
曾炽强 ;
李树湖 ;
曾灶烟 ;
叶婷 .
中国专利 :CN207502302U ,2018-06-15
[9]
一种IPC智能测试装置 [P]. 
周国静 ;
王祖波 ;
廖静 .
中国专利 :CN114500989A ,2022-05-13
[10]
一种底板智能测试装置 [P]. 
洪俊 ;
梁汉江 .
中国专利 :CN205217407U ,2016-05-11