一种性能测试方法、装置、设备及介质

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申请号
CN202210911911.4
申请日
2022-07-29
公开(公告)号
CN115129572A
公开(公告)日
2022-09-30
发明(设计)人
刘迎
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G06F1134
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
姚莹丽
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种性能测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
刘迎 .
中国专利 :CN115129572B ,2024-06-28
[2]
一种性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
常国栋 .
中国专利 :CN115480970A ,2022-12-16
[3]
一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭申 ;
廖泉辉 ;
林锴滨 ;
方俊德 ;
周诚 .
中国专利 :CN119938462A ,2025-05-06
[4]
一种硬盘性能测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
樊淋杰 ;
刘伯书 .
中国专利 :CN115658395A ,2023-01-31
[5]
一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
穆亚昆 ;
姬超平 .
中国专利 :CN114546852A ,2022-05-27
[6]
一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
穆亚昆 ;
姬超平 .
中国专利 :CN114546852B ,2024-04-09
[7]
一种性能测试方法和装置 [P]. 
张航舰 ;
魏爱升 ;
田年勇 .
中国专利 :CN113342633A ,2021-09-03
[8]
一种性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
高健 .
中国专利 :CN113360389A ,2021-09-07
[9]
一种性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
邵珠亮 .
中国专利 :CN118860822A ,2024-10-29
[10]
一种性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
王建军 .
中国专利 :CN117785572A ,2024-03-29