定量测试力电性能与显微结构的传感器及制作方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910209434.1

申请日：

2009-10-30

公开(公告)号：

CN101837943B

公开(公告)日：

2010-09-22

发明(设计)人：

韩晓东刘攀岳永海张泽

申请人：

申请人地址：

100124 北京市朝阳区平乐园100号

IPC主分类号：

B81B702

IPC分类号：

B81C100 B81C9900 H01J3702 H01J900 G01Q3002 G01N2700

代理机构：

北京思海天达知识产权代理有限公司 11203

代理人：

刘萍

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B81B 7/02 申请日:20091030 授权公告日:20111109 终止日期:20191030
2010-11-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101014692942 IPC(主分类):B81B 7/02 专利申请号:2009102094341 申请日:20091030
2011-11-09	授权	授权
2010-09-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种定量测试力电性能与显微结构的传感器 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

岳永海 ;

张泽 .

中国专利 :CN201522985U ,2010-07-07

[2]

透射电镜用力电性能与显微结构测量的传感器及制作方法 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN101694829A ,2010-04-14

[3]

一种透射电镜用力电性能与显微结构测量的传感器 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN201522458U ,2010-07-07

[4]

应力状态下纳米材料力电性能与显微结构测量装置和方法 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张跃飞 ;

岳永海 ;

张泽 .

中国专利 :CN101464244A ,2009-06-24

[5]

应力状态下纳米材料力电性能与显微结构测量装置 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张跃飞 ;

岳永海 ;

张泽 .

中国专利 :CN201340380Y ,2009-11-04

[6]

低维纳米材料显微结构与电学性能测试装置和方法 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN101545872B ,2009-09-30

[7]

纳米线的显微结构与电学性能测试装置 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN101545871A ,2009-09-30

[8]

纳米线的显微结构与电学性能测试装置 [P].

韩晓东 ;

刘攀 ;

张泽 .

中国专利 :CN201488957U ,2010-05-26

[9]

可调力/力矩的传感器及制作方法 [P].

张卫平 ;

孟冉 ;

周岁 ;

王晨阳 ;

赵佳欣 .

中国专利 :CN111044182A ,2020-04-21

[10]

悬臂结构制作方法、传感器制作方法及传感器 [P].

鲜济遥 ;

李志强 ;

欧阳纯方 ;

金贤敏 ;

魏志猛 .

中国专利 :CN117699735A ,2024-03-15

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