背光模组光学测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320883945.3

申请日：

2013-12-30

公开(公告)号：

CN203705748U

公开(公告)日：

2014-07-09

发明(设计)人：

李鹏古诗路韩智慧

申请人：

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区高新南一道创维大厦A座13-16层

IPC主分类号：

G02F113

IPC分类号：

G01M1100

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

胡海国;管自英

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-24	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101728164342 IPC(主分类):G02F 1/13 专利号:ZL2013208839453 变更事项:专利权人变更前:创维液晶器件(深圳)有限公司变更后:创维液晶器件(深圳)有限公司变更事项:地址变更前:518057 广东省深圳市南山区高新南一道创维大厦A座13-16层变更后:518000 广东省深圳市宝安区石岩街道塘头一号路创维科技工业园研发大楼二、三、四楼及综合大楼一楼
2021-12-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G02F 1/13 申请日:20131230 授权公告日:20140709 终止日期:20201230
2014-07-09	授权	授权

共 50 条

[1]

光学模组测试装置 [P].

胡波 ;

王建 ;

李玉森 .

中国专利 :CN209513216U ,2019-10-18

[2]

显示模组背光测试装置 [P].

刘栿 .

中国专利 :CN205920291U ,2017-02-01

[3]

光学模组的测试装置 [P].

黎亚奎 ;

邓水冰 ;

高其伟 .

中国专利 :CN211978667U ,2020-11-20

[4]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212569029U ,2021-02-19

[5]

背光模组测试装置和系统 [P].

乔向洋 ;

吴洋 .

中国专利 :CN218181247U ,2022-12-30

[6]

微型摄像模组光学测试装置 [P].

冷启明 ;

张开元 ;

陈威威 ;

张宇驰 .

中国专利 :CN203299133U ,2013-11-20

[7]

微型摄像模组光学测试装置 [P].

周浩 .

中国专利 :CN2786592Y ,2006-06-07

[8]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN111398790A ,2020-07-10

[9]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN111398790B ,2024-09-13

[10]

直下式背光模组测试装置 [P].

李明君 ;

田云龙 ;

付常佳 .

中国专利 :CN103698918A ,2014-04-02

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