光学芯片模组测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010356167.7

申请日：

2020-04-29

公开(公告)号：

CN111398790A

公开(公告)日：

2020-07-10

发明(设计)人：

朱小刚

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区苏虹东路17号2#厂房

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R1067 G01R104 G01R300

代理机构：

南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297

代理人：

陆明耀;顾祥安

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200429
2020-07-10	公开	公开

共 50 条

[1]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN111398790B ,2024-09-13

[2]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212569029U ,2021-02-19

[3]

测试探针、光学芯片模组测试探针组件、探针组件组装方法及光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN111398791A ,2020-07-10

[4]

测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30

[5]

光学模组测试装置 [P].

胡波 ;

王建 ;

李玉森 .

中国专利 :CN209513216U ,2019-10-18

[6]

测试装置和芯片模组 [P].

李海洋 .

中国专利 :CN112802537B ,2021-05-14

[7]

背光模组光学测试装置 [P].

李鹏 ;

古诗路 ;

韩智慧 .

中国专利 :CN203705748U ,2014-07-09

[8]

光学模组的测试装置 [P].

黎亚奎 ;

邓水冰 ;

高其伟 .

中国专利 :CN211978667U ,2020-11-20

[9]

一种光学芯片测试装置 [P].

杜俊钟 ;

赵自强 .

中国专利 :CN113567470A ,2021-10-29

[10]

芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P].

李超 ;

闻岳 ;

钱澄 ;

杨斌 .

中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14

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