测试装置和芯片模组

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011613428.5
申请日
2020-12-30
公开(公告)号
CN112802537B
公开(公告)日
2021-05-14
发明(设计)人
李海洋
申请人
申请人地址
300392 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人
唐菲
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学芯片模组测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN111398790A ,2020-07-10
[2]
光学芯片模组测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN111398790B ,2024-09-13
[3]
光学芯片模组测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN212569029U ,2021-02-19
[4]
芯片和芯片测试装置 [P]. 
付海涛 ;
王韧 ;
杨昊 ;
黄俊林 ;
王国玺 .
中国专利 :CN117396764A ,2024-01-12
[5]
芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P]. 
李超 ;
闻岳 ;
钱澄 ;
杨斌 .
中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14
[6]
芯片测试装置和芯片测试系统 [P]. 
徐永刚 ;
彭瑞 ;
童炜 ;
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 .
中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19
[7]
芯片测试装置和芯片测试设备 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29
[8]
芯片测试机和芯片测试装置 [P]. 
陈群 ;
彭报 .
中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25
[9]
芯片测试装置和芯片测试方法 [P]. 
魏斌 ;
成嵩 ;
窦志军 ;
王栋 ;
徐靖林 ;
金锐 .
中国专利 :CN112100015A ,2020-12-18
[10]
芯片测试压头和芯片测试装置 [P]. 
王攀 ;
段源鸿 ;
王华杲 .
中国专利 :CN211348543U ,2020-08-25