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测试装置和芯片模组
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011613428.5
申请日
:
2020-12-30
公开(公告)号
:
CN112802537B
公开(公告)日
:
2021-05-14
发明(设计)人
:
李海洋
申请人
:
申请人地址
:
300392 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号
:
G11C2956
IPC分类号
:
代理机构
:
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人
:
唐菲
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-05-14
公开
公开
2021-06-01
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20201230
2022-12-06
授权
授权
共 50 条
[1]
光学芯片模组测试装置
[P].
朱小刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱小刚
.
中国专利
:CN111398790A
,2020-07-10
[2]
光学芯片模组测试装置
[P].
朱小刚
论文数:
0
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机构:
苏州创瑞机电科技有限公司
苏州创瑞机电科技有限公司
朱小刚
.
中国专利
:CN111398790B
,2024-09-13
[3]
光学芯片模组测试装置
[P].
朱小刚
论文数:
0
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0
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0
朱小刚
.
中国专利
:CN212569029U
,2021-02-19
[4]
芯片和芯片测试装置
[P].
付海涛
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0
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
付海涛
;
王韧
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
王韧
;
杨昊
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
杨昊
;
黄俊林
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
黄俊林
;
王国玺
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
王国玺
.
中国专利
:CN117396764A
,2024-01-12
[5]
芯片测试用转接模组及芯片测试装置
[P].
李超
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
李超
;
闻岳
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
闻岳
;
钱澄
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
钱澄
;
杨斌
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
杨斌
.
中国专利
:CN220961612U
,2024-05-14
[6]
芯片测试装置和芯片测试系统
[P].
徐永刚
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
彭瑞
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
彭瑞
;
童炜
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
童炜
;
孙成思
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
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成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
.
中国专利
:CN117420421A
,2024-01-19
[7]
芯片测试装置和芯片测试设备
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
刘冲
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刘冲
.
中国专利
:CN217085181U
,2022-07-29
[8]
芯片测试机和芯片测试装置
[P].
陈群
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陈群
;
彭报
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彭报
.
中国专利
:CN216133165U
,2022-03-25
[9]
芯片测试装置和芯片测试方法
[P].
魏斌
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魏斌
;
成嵩
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成嵩
;
窦志军
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窦志军
;
王栋
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王栋
;
徐靖林
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徐靖林
;
金锐
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金锐
.
中国专利
:CN112100015A
,2020-12-18
[10]
芯片测试压头和芯片测试装置
[P].
王攀
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王攀
;
段源鸿
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段源鸿
;
王华杲
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王华杲
.
中国专利
:CN211348543U
,2020-08-25
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