芯片和芯片测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202180098096.8

申请日：

2021-06-28

公开(公告)号：

CN117396764A

公开(公告)日：

2024-01-12

发明(设计)人：

付海涛王韧杨昊黄俊林王国玺

申请人：

华为技术有限公司

申请人地址：

518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

IPC主分类号：

G01R31/3173

IPC分类号：

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

王洪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/3173申请日:20210628
2024-01-12	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[2]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[3]

芯片测试装置和芯片测试方法 [P].

魏斌 ;

成嵩 ;

窦志军 ;

王栋 ;

徐靖林 ;

金锐 .

中国专利 :CN112100015A ,2020-12-18

[4]

芯片测试压头和芯片测试装置 [P].

王攀 ;

段源鸿 ;

王华杲 .

中国专利 :CN211348543U ,2020-08-25

[5]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[6]

芯片测试装置和芯片测试方法 [P].

华正明 .

中国专利 :CN107544019A ,2018-01-05

[7]

芯片测试组件和芯片测试装置 [P].

赵海洋 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

揭佳林 ;

范志超 ;

曾岩 ;

李安平 .

中国专利 :CN212808508U ,2021-03-26

[8]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

[9]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[10]

芯片测试装置 [P].

彭浪 .

中国专利 :CN221007786U ,2024-05-24

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