一种用于物体表面瑕疵检测方法及其装置

被引:0
申请号
CN202011641198.3
申请日
2020-12-31
公开(公告)号
CN115439389A
公开(公告)日
2022-12-06
发明(设计)人
程洁 陈成才
申请人
申请人地址
201803 上海市嘉定区金沙江西路1555弄398号7层
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06N304 G06N308
代理机构
北京布瑞知识产权代理有限公司 11505
代理人
孟潭
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
物体表面瑕疵检测装置 [P]. 
陈贵 ;
费正顺 ;
林祥军 ;
刘康玲 .
中国专利 :CN205374331U ,2016-07-06
[2]
物体表面瑕疵检测方法及系统 [P]. 
江浩 .
中国专利 :CN108088846A ,2018-05-29
[3]
一种物体表面划痕检测装置及其检测方法 [P]. 
王想实 ;
叶晓霖 ;
李萍 .
中国专利 :CN106770330A ,2017-05-31
[4]
透明柱状物体表面瑕疵的检测装置 [P]. 
郑可尧 ;
赵战辉 ;
张栋 .
中国专利 :CN115372257A ,2022-11-22
[5]
物体表面形貌检测方法、物体表面形貌检测系统及装置 [P]. 
熊唯清 ;
许彬琪 ;
杨志 .
中国专利 :CN118687506A ,2024-09-24
[6]
物体表面缺陷检测方法、装置 [P]. 
周才健 ;
周柔刚 ;
盛锦华 .
中国专利 :CN110349133B ,2019-10-18
[7]
一种物体表面检测装置及检测方法 [P]. 
韩雪山 ;
杨晓青 ;
申永强 .
中国专利 :CN111351794A ,2020-06-30
[8]
一种物体表面缺陷区域的检测方法及装置 [P]. 
朱凤婷 .
中国专利 :CN118134879A ,2024-06-04
[9]
物体表面缺陷检测方法和装置 [P]. 
张成松 ;
杨帆 ;
王耀晖 .
中国专利 :CN108846837A ,2018-11-20
[10]
物体表面检测装置、硅片检测装置及方法 [P]. 
汪晓波 .
中国专利 :CN111464132A ,2020-07-28