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集成电路芯片及熔断器的测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201811042875.2
申请日：
2018-09-07
公开(公告)号：
CN110888048A
公开(公告)日：
2020-03-17
发明(设计)人：
不公告发明人
申请人：
申请人地址：
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号：
G01R31327
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人：
袁礼君;阚梓瑄
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-03-17 | 公开 | 公开 |