试样检查装置及试样检查方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201880028185.3
申请日
2018-12-20
公开(公告)号
CN110582833B
公开(公告)日
2019-12-17
发明(设计)人
西谷智博 小泉淳 鹿野悠
申请人
申请人地址
日本爱知县
IPC主分类号
H01J37244
IPC分类号
G01N232251 H01J37073 H01J37252
代理机构
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
金英花
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体试样的检查装置及检查方法 [P]. 
岩城吉刚 ;
中嶋裕司 ;
山田俊毅 .
日本专利 :CN112639494B ,2024-07-12
[2]
半导体试样的检查装置及检查方法 [P]. 
山田俊毅 .
中国专利 :CN114364995A ,2022-04-15
[3]
半导体试样的检查装置及检查方法 [P]. 
岩城吉刚 ;
中嶋裕司 ;
山田俊毅 .
中国专利 :CN112639494A ,2021-04-09
[4]
生物试样检查装置 [P]. 
涩谷恭平 ;
竹内佑太 .
中国专利 :CN109425737A ,2019-03-05
[5]
试样状态判定装置、试样状态判定方法及试样检查装置 [P]. 
服部英春 ;
柿下容弓 ;
为实秀人 ;
铃木洋一郎 .
日本专利 :CN119317841A ,2025-01-14
[6]
检查或观察装置及试样的检查或观察方法 [P]. 
大南祐介 ;
许斐麻美 ;
伊东祐博 ;
大泷智久 ;
河西晋佐 .
中国专利 :CN103858204B ,2014-06-11
[7]
检查血液试样的方法 [P]. 
西光海 ;
宫内纪子 ;
入江知子 .
日本专利 :CN118451324A ,2024-08-06
[8]
检查装置以及检查方法 [P]. 
塚本健夫 .
日本专利 :CN118661093A ,2024-09-17
[9]
检查装置以及检查方法 [P]. 
塚本健夫 .
日本专利 :CN118661094A ,2024-09-17
[10]
检查装置以及检查方法 [P]. 
塚本健夫 .
日本专利 :CN118891514A ,2024-11-01