ADC芯片测试电路和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010413630.7

申请日：

2020-05-15

公开(公告)号：

CN111579963A

公开(公告)日：

2020-08-25

发明(设计)人：

刘彬赵希军李毅梁善儒李俊锋

申请人：

申请人地址：

519085 广东省珠海市唐家湾哈工大路1号新经济资源港博士楼B101

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

郑晨鸣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200515
2020-08-25	公开	公开

共 50 条

[1]

ADC芯片测试电路和设备 [P].

刘彬 ;

赵希军 ;

李毅 ;

梁善儒 ;

李俊锋 .

中国专利 :CN111579963B ,2024-12-03

[2]

ADC芯片测试电路和设备 [P].

刘彬 ;

赵希军 ;

李毅 ;

梁善儒 ;

李俊锋 .

中国专利 :CN212410777U ,2021-01-26

[3]

ADC芯片测试电路以及测试设备 [P].

李文标 ;

苗书立 ;

刘凯 .

中国专利 :CN217159676U ,2022-08-09

[4]

一种ADC芯片测试电路和测试方法 [P].

习伟 ;

李鹏 ;

陈军健 ;

关志华 ;

张巧惠 ;

邓清唐 ;

陶伟 ;

王泽宇 .

中国专利 :CN117347834A ,2024-01-05

[5]

ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质 [P].

苗书立 ;

李文标 ;

刘凯 .

中国专利 :CN114257244B ,2025-06-20

[6]

ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质 [P].

苗书立 ;

李文标 ;

刘凯 .

中国专利 :CN114257244A ,2022-03-29

[7]

ADC芯片测试方法 [P].

刘彬 ;

赵希军 ;

李毅 ;

梁善儒 ;

李俊锋 .

中国专利 :CN111693857B ,2020-09-22

[8]

基于同颗芯片的ADC测试电路 [P].

李宁 ;

徐建华 .

中国专利 :CN214097709U ,2021-08-31

[9]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[10]

芯片测试电路、芯片及测试设备 [P].

严波 ;

罗浚洲 ;

王悦 .

中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01

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