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ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111501380.3
申请日：
2021-12-09
公开(公告)号：
CN114257244A
公开(公告)日：
2022-03-29
发明(设计)人：
苗书立
李文标
刘凯
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区深圳软件产业基地第5栋裙楼401、402室
IPC主分类号：
H03M110
IPC分类号：
代理机构：
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人：
梁姗
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-29 | 公开 | 公开 |
| 2022-04-15 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):H03M 1/10 申请日:20211209 |