高分辨率应变测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610345053.6
申请日
2016-05-23
公开(公告)号
CN105841602A
公开(公告)日
2016-08-10
发明(设计)人
杨涛 郝天之 陈齐风 连金明 于孟生 卓小丽 吴国强
申请人
申请人地址
530007 广西壮族自治区南宁市高新区高新二路6号
IPC主分类号
G01B716
IPC分类号
代理机构
广西南宁公平专利事务所有限责任公司 45104
代理人
杨立华
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
高分辨率应变测试装置 [P]. 
杨涛 ;
郝天之 ;
陈齐风 ;
连金明 ;
于孟生 ;
卓小丽 ;
吴国强 .
中国专利 :CN205879104U ,2017-01-11
[2]
高分辨率应变测试方法 [P]. 
郝天之 ;
杨涛 ;
王龙林 ;
李增科 ;
刘雪雷 ;
连金明 ;
张桥 .
中国专利 :CN105806210A ,2016-07-27
[3]
测序和高分辨率成像 [P]. 
B·P·斯塔克 ;
刘念东 ;
马诺哈尔·R·弗塔多 ;
方日勋 ;
诺曼·伯恩斯 ;
温莎·欧文斯 .
中国专利 :CN110650794B ,2020-01-03
[4]
测序和高分辨率成像 [P]. 
B·P·斯塔克 ;
刘念东 ;
马诺哈尔·R·弗塔多 ;
方日勋 ;
诺曼·伯恩斯 ;
温莎·欧文斯 .
中国专利 :CN114921537A ,2022-08-19
[5]
一种用于高分辨率显微镜生产的镜片测试装置 [P]. 
崔继承 ;
韩雪峰 ;
张学龙 ;
左宏志 ;
张秉京 ;
庄伟 .
中国专利 :CN115307875A ,2022-11-08
[6]
一种用于高分辨率显微镜生产的镜片测试装置 [P]. 
崔继承 ;
韩雪峰 ;
张学龙 ;
左宏志 ;
张秉京 ;
庄伟 .
中国专利 :CN115307875B ,2024-08-20
[7]
可变视场的分辨率测试装置 [P]. 
杨春君 ;
王均 .
中国专利 :CN202305176U ,2012-07-04
[8]
低照度CMOS分辨率测试装置 [P]. 
邱亚峰 ;
李杰 .
中国专利 :CN107027022A ,2017-08-08
[9]
一种高分辨率太赫兹特征谱线精密测试装置及测试方法 [P]. 
梁晓林 ;
姜万顺 ;
杨耀辉 ;
邓建钦 ;
贾定宏 ;
朱伟峰 .
中国专利 :CN115078300B ,2024-07-26
[10]
一种高分辨率太赫兹特征谱线精密测试装置及测试方法 [P]. 
梁晓林 ;
姜万顺 ;
杨耀辉 ;
邓建钦 ;
贾定宏 ;
朱伟峰 .
中国专利 :CN115078300A ,2022-09-20