应用于半导体测试设备的自检系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011351849.5

申请日：

2020-11-27

公开(公告)号：

CN112578266A

公开(公告)日：

2021-03-30

发明(设计)人：

毛江峰钟锋浩胡俊刘欢

申请人：

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区聚才路410号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3152 G01R3154

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

贺才杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201127
2021-03-30	公开	公开

共 50 条

[1]

应用于半导体设备的监测系统及半导体设备 [P].

王文寿 .

中国专利 :CN120998826A ,2025-11-21

[2]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

[3]

一种半导体测试设备 [P].

姚俊俊 ;

沈思情 ;

姚钉丁 ;

张俊宝 ;

陈猛 .

中国专利 :CN209156455U ,2019-07-26

[4]

应用于半导体设备元器件测试的探针 [P].

李玉清 ;

方涛 ;

邵桢威 ;

潘锦涛 .

中国专利 :CN221595083U ,2024-08-23

[5]

一种半导体测试设备及应用其的测试方法 [P].

周辉 ;

凌云 .

中国专利 :CN119758003A ,2025-04-04

[6]

半导体测试设备 [P].

李相骏 ;

李永吉 .

中国专利 :CN103121012A ,2013-05-29

[7]

半导体测试设备 [P].

郑照荣 ;

孙振坤 .

中国专利 :CN107799431A ,2018-03-13

[8]

半导体测试设备 [P].

卢春阳 ;

庄建强 .

中国专利 :CN208705243U ,2019-04-05

[9]

半导体测试设备 [P].

张雷 ;

徐俊 .

中国专利 :CN201673239U ,2010-12-15

[10]

半导体测试设备 [P].

尹侣智 ;

胡思强 ;

梁加林 .

中国专利 :CN117517913A ,2024-02-06

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