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一种半导体测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821992393.9
申请日：
2018-11-29
公开(公告)号：
CN209156455U
公开(公告)日：
2019-07-26
发明(设计)人：
姚俊俊
沈思情
姚钉丁
张俊宝
陈猛
申请人：
申请人地址：
201617 上海市松江区石湖荡镇闵塔路808号3号厂房
IPC主分类号：
B07C504
IPC分类号：
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
孟金喆
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-07-26 | 授权 | 授权 |
| 2021-09-14 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):B07C 5/04 变更事项:专利权人 变更前:上海超硅半导体有限公司 变更后:上海超硅半导体股份有限公司 变更事项:地址 变更前:201617 上海市松江区石湖荡镇闵塔路808号3号厂房 变更后:201616 上海市松江区鼎松路150弄1-15号 变更事项:专利权人 变更前:重庆超硅半导体有限公司 变更后:重庆超硅半导体有限公司 |