一种用于半导体测试设备机架

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202422442156.7
申请日
2024-10-10
公开(公告)号
CN223426706U
公开(公告)日
2025-10-10
发明(设计)人
刘海 张传青 钱业伟
申请人
安徽瑞控智能科技有限公司
申请人地址
241000 安徽省芜湖市中国(安徽)自由贸易试验区芜湖片区永镇路28号瑞佑厂区
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
代理机构
芜湖思诚知识产权代理有限公司 34138
代理人
张福敏
法律状态
授权
国省代码
安徽省 芜湖市
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共 50 条
[1]
一种半导体测试设备 [P]. 
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[2]
一种半导体测试设备 [P]. 
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[3]
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姚俊俊 ;
沈思情 ;
姚钉丁 ;
张俊宝 ;
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[4]
一种半导体测试设备 [P]. 
颜伟雄 .
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[5]
一种半导体测试设备 [P]. 
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[6]
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[7]
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