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一种半导体测试设备液冷系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202122216188.1
申请日
:
2021-09-14
公开(公告)号
:
CN215735604U
公开(公告)日
:
2022-02-01
发明(设计)人
:
刘建平
朱家呈
申请人
:
申请人地址
:
201611 上海市松江区新飞路1199号3号厂房
IPC主分类号
:
H05K720
IPC分类号
:
代理机构
:
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
:
郭玉兵
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-01
授权
授权
共 50 条
[1]
液冷系统故障监控方法及半导体测试设备
[P].
孙召璞
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海精积微半导体技术有限公司
上海精积微半导体技术有限公司
孙召璞
;
余乐
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0
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0
机构:
上海精积微半导体技术有限公司
上海精积微半导体技术有限公司
余乐
.
中国专利
:CN118913749A
,2024-11-08
[2]
一种半导体测试设备
[P].
李强
论文数:
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机构:
芯创(天门)电子科技有限公司
芯创(天门)电子科技有限公司
李强
;
李彦锋
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机构:
芯创(天门)电子科技有限公司
芯创(天门)电子科技有限公司
李彦锋
;
余文武
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0
机构:
芯创(天门)电子科技有限公司
芯创(天门)电子科技有限公司
余文武
.
中国专利
:CN220752163U
,2024-04-09
[3]
一种半导体测试设备
[P].
姚俊俊
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0
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0
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姚俊俊
;
沈思情
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沈思情
;
姚钉丁
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姚钉丁
;
张俊宝
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张俊宝
;
陈猛
论文数:
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0
陈猛
.
中国专利
:CN209156455U
,2019-07-26
[4]
一种半导体测试设备
[P].
颜伟雄
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颜伟雄
.
中国专利
:CN214122390U
,2021-09-03
[5]
一种半导体测试设备
[P].
焦宗凯
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焦宗凯
.
中国专利
:CN215813172U
,2022-02-11
[6]
一种半导体测试设备
[P].
江俊
论文数:
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江俊
.
中国专利
:CN210513571U
,2020-05-12
[7]
控温系统及半导体测试设备
[P].
王佳淳
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
王佳淳
;
李杰
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
李杰
;
叶波
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
叶波
;
张琦杰
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
张琦杰
.
中国专利
:CN222926772U
,2025-05-30
[8]
半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统
[P].
袁晓航
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
袁晓航
;
杨钊辉
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
杨钊辉
;
吴炳龙
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
吴炳龙
;
胡刚
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
胡刚
;
胡松德
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
胡松德
.
中国专利
:CN223022311U
,2025-06-24
[9]
一种用于半导体测试设备机架
[P].
刘海
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机构:
安徽瑞控智能科技有限公司
安徽瑞控智能科技有限公司
刘海
;
张传青
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机构:
安徽瑞控智能科技有限公司
安徽瑞控智能科技有限公司
张传青
;
钱业伟
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机构:
安徽瑞控智能科技有限公司
安徽瑞控智能科技有限公司
钱业伟
.
中国专利
:CN223426706U
,2025-10-10
[10]
一种半导体测试设备
[P].
何淑英
论文数:
0
引用数:
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何淑英
.
中国专利
:CN216525461U
,2022-05-13
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