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一种半导体测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202322220069.2
申请日：
2023-08-17
公开(公告)号：
CN220752163U
公开(公告)日：
2024-04-09
发明(设计)人：
李强
李彦锋
余文武
申请人：
芯创（天门）电子科技有限公司
申请人地址：
431700 湖北省天门市侨乡街道开发区芯创电子信息产业园（西湖路317号）
IPC主分类号：
G01R1/02
IPC分类号：
G01R1/04
G01R31/26
代理机构：
北京鼎德宝专利代理事务所(特殊普通合伙) 11823
代理人：
翟锁红
法律状态：
授权
国省代码：
河北省
唐山市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-04-09 | 授权 | 授权 |